公开(公告)号：CN1721838B

公开(公告)日：2010-07-14

申请号：CN200510084614.3

申请日：2005-07-15

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 冈宏一 ,  新田哲士

IPC: G01N21/35 ,  G01N21/01

CPC classification number: G01N21/3504

Abstract: 本发明涉及气体中杂质的定量方法及装置。从气体中除去杂质、导入容器15、透过容器15光的强度作为参照实施测定。将含已知浓度杂质的气体导入同一容器15，保持同温同压，测定透过容器15光的强度，由上述两次测定所得的光强度之比求杂质的吸光度。此杂质吸光度作为杂质浓度函数记忆在存储器20a中。将含未知浓度杂质的气体导入容器15，保持同温同压，测定透过容器15的光强度，求经此测定所得杂质对上述参照的吸光度，此吸光度应用于上述函数、求杂质浓度。

公开(公告)号：CN1721838A

公开(公告)日：2006-01-18

申请号：CN200510084614.3

申请日：2005-07-15

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 冈宏一 ,  新田哲士

IPC: G01N21/35 ,  G01N21/01

CPC classification number: G01N21/3504

Abstract: 本发明涉及气体中杂质的定量方法及装置。从气体中除去杂质、导入容器15、透过容器15光的强度作为参照实施测定。将含已知浓度杂质的气体导入同一容器15，保持同温同压，测定透过容器15光的强度，由上述两次测定所得的光强度之比求杂质的吸光度。此杂质吸光度作为杂质浓度函数记忆在存储器20a中。将含未知浓度杂质的气体导入容器15，保持同温同压，测定透过容器15的光强度，求经此测定所得杂质对上述参照的吸光度，此吸光度应用于上述函数、求杂质浓度。

公开(公告)号：CN1710407A

公开(公告)日：2005-12-21

申请号：CN200510078909.X

申请日：2005-06-16

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 冈宏一 ,  新田哲士

IPC: G01N21/31 ,  G01N21/59

CPC classification number: G01N21/031 ,  G01N21/3504

Abstract: 具备照射出在某一波长范围扩展的光线的光源S、使从上述光源照射出的光线发生反射的第1反射镜M1、引导上述被第1反射镜反射的光线的长光程气管1、从上述长光程气管射出的光线发生反射的第2反射镜M2、以及检测被上述第2反射镜反射的光线的传感器D，并且在上述光源S到上述传感器D的光程间，设置了具有在与光程正交的2偏振方向(X、Y)间焦距不同的双聚焦特性的透镜21、22。补偿设置在气管1内部的球面镜6、7的像差，使得气管1的光线透过率不会降低。