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公开(公告)号:CN101726884A
公开(公告)日:2010-06-09
申请号:CN200910209083.4
申请日:2009-10-30
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G02F1/13
Abstract: 提供一种液晶盒的倾角测定方法和装置,可以无需显微光学系统,且只需一次测定液晶盒的透射光强度。从光源(21)的光取出线偏振分量的光;把该偏振分量的光照在液晶盒(23)上以使得该光的光轴(B)与液晶盒(23)的法线成倾斜的角度(θ);基于透过液晶盒(23)后出射的光的与偏振分量成直角方向的偏振分量中的光强度,求出光强度透射率(Tc);用该光强度透射率(Tc)、液晶的正常光折射率(no)和异常光折射率(ne)、角度(θ)以及液晶的厚度(d),求出液晶的倾角(β)。
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公开(公告)号:CN101825785A
公开(公告)日:2010-09-08
申请号:CN201010128709.1
申请日:2010-03-03
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor: 杉田一纮
IPC: G02F1/13
Abstract: 本发明提供一种反射型液晶盒的倾角测定方法以及测定装置。从光源(21)的光中取出直线偏振分量的光,以使该光的光轴(B)成为与反射型液晶盒(23)的法线倾斜的角度(θ)的方式,对反射型液晶盒(23)照射该偏振分量的光,根据被反射型液晶盒(23)的反射层(23a)反射的光的与偏振分量成直角的方向的偏振分量中的光强度,求出光强度反射率(Rc),使用该光强度反射率(Rc)、液晶的正常光折射率(no)及异常光折射率(ne)、角度(θ)、液晶的厚度(d)、以及反射层(23a)的折射率(nr),求出液晶的倾角(β)。能够对反射型液晶盒的倾角进行测定。
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