公开(公告)号：CN101726884A

公开(公告)日：2010-06-09

申请号：CN200910209083.4

申请日：2009-10-30

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 杉田一纮 ,  铜田知广

IPC: G02F1/13

Abstract: 提供一种液晶盒的倾角测定方法和装置，可以无需显微光学系统，且只需一次测定液晶盒的透射光强度。从光源(21)的光取出线偏振分量的光；把该偏振分量的光照在液晶盒(23)上以使得该光的光轴(B)与液晶盒(23)的法线成倾斜的角度(θ)；基于透过液晶盒(23)后出射的光的与偏振分量成直角方向的偏振分量中的光强度，求出光强度透射率(Tc)；用该光强度透射率(Tc)、液晶的正常光折射率(no)和异常光折射率(ne)、角度(θ)以及液晶的厚度(d)，求出液晶的倾角(β)。

公开(公告)号：CN101825785A

公开(公告)日：2010-09-08

申请号：CN201010128709.1

申请日：2010-03-03

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 杉田一纮

IPC: G02F1/13

Abstract: 本发明提供一种反射型液晶盒的倾角测定方法以及测定装置。从光源(21)的光中取出直线偏振分量的光，以使该光的光轴(B)成为与反射型液晶盒(23)的法线倾斜的角度(θ)的方式，对反射型液晶盒(23)照射该偏振分量的光，根据被反射型液晶盒(23)的反射层(23a)反射的光的与偏振分量成直角的方向的偏振分量中的光强度，求出光强度反射率(Rc)，使用该光强度反射率(Rc)、液晶的正常光折射率(no)及异常光折射率(ne)、角度(θ)、液晶的厚度(d)、以及反射层(23a)的折射率(nr)，求出液晶的倾角(β)。能够对反射型液晶盒的倾角进行测定。