公开(公告)号：CN1215310C

公开(公告)日：2005-08-17

申请号：CN01822551.9

申请日：2001-02-09

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 铜田知广 ,  瀧泽雅也

IPC: G01B11/06 ,  G02F1/13

CPC classification number: G02F1/1309 ,  G01B11/065 ,  G01B11/14

Abstract: 定起偏振器(14)的偏振角为θ1，测量液晶单元(15)在正交尼科耳状态下的反射强度S1和参考反射强度Ref1。然后，设定不同的偏振角θ2，测量该液晶单元在正交尼科耳状态下的反射强度S2和参考反射强度Ref2。确定测量强度的比率S1/Ref1，S2/Ref2和比率S1·Ref2/S2·Ref1，为的是抵消参考反射强度Ref1，Ref2的背景分量，从而准确地测定单元的间隙值(图1)。

公开(公告)号：CN1489684A

公开(公告)日：2004-04-14

申请号：CN01822551.9

申请日：2001-02-09

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 铜田知广 ,  瀧泽雅也

IPC: G01B11/06 ,  G02F1/13

CPC classification number: G02F1/1309 ,  G01B11/065 ,  G01B11/14

Abstract: 定起偏振器(14)的偏振角为θ1，测量液晶单元(15)在正交尼科耳状态下的反射强度S1和参考反射强度Ref1。然后，设定不同的偏振角θ2，测量该液晶单元在正交尼科耳状态下的反射强度S2和参考反射强度Ref2。确定测量强度的比率S1/Ref1，S2/Ref2和比率S1·Ref2/S2·Ref1，为的是抵消参考反射强度Ref1，Ref2的背景分量，从而准确地测定单元的间隙值(图1)。