公开(公告)号：CN1326543A

公开(公告)日：2001-12-12

申请号：CN99813471.6

申请日：1999-09-20

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 铜田知广 ,  村野健治 ,  藏上浩一

IPC: G01B11/06 ,  G02F1/13 ,  G02F1/1337

CPC classification number: G02F1/1309 ,  G01B11/06 ,  G01B11/14 ,  G02F2001/133742

Abstract: 光线以关于VA(垂直定位)液晶板的一个角度入射,该液晶板的表面垂直于液晶分子的光轴,因此人为产生只归因于液晶层的双折射。这就允许VA液晶的厚度(单元间隙)能被精确地测量。

公开(公告)号：CN1136433C

公开(公告)日：2004-01-28

申请号：CN99813471.6

申请日：1999-09-20

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 铜田知广 ,  村野健治 ,  藏上浩一

IPC: G01B11/06 ,  G02F1/13 ,  G02F1/1337

CPC classification number: G02F1/1309 ,  G01B11/06 ,  G01B11/14 ,  G02F2001/133742

Abstract: 一种垂直定位的液晶板的单元间隙的测量方法和测量装置。光线以相对于VA(垂直定位的)液晶板的一个角度入射，该液晶板的表面垂直于液晶分子的光轴，因此人为产生只归因于液晶层的双折射。这就允许VA液晶的厚度(单元间隙)能被精确地测量。