公开(公告)号：JP2020051854A

公开(公告)日：2020-04-02

申请号：JP2018180546

申请日：2018-09-26

Applicant: 大塚電子株式会社

Inventor： 大久保 和明 ,  菊池 正博

IPC: G01M11/00

Abstract: 【課題】従来の測定方法において生じる課題を解決する。 【解決手段】測定システムは、互いに対向する位置に形成された入射窓および試料窓を有する積分器と、試料窓から所定距離だけ離れた位置に形成された観測窓を通じて、積分器の照度を測定する受光器と、積分器内の試料窓と観測窓とを結ぶ光学経路上に配置されたバッフルと、受光器から出力される測定値を処理することで光学特性を算出する処理装置とを含む。入射窓は、積分器の外部に配置された第1の光源からの光の積分器内への導入と遮断とを選択可能に構成されている。試料窓は、反射率が既知の拡散反射部材と第2の光源とを選択的に装着可能に構成されている。 【選択図】図1

公开(公告)号：JP2021171665A

公开(公告)日：2021-11-01

申请号：JP2020074357

申请日：2020-04-17

Applicant: 大塚電子株式会社

Inventor： 大久保 和明

IPC: C02F1/32 ,  A61L9/20 ,  A61L2/10 ,  B01J19/12

Abstract: 【課題】紫外線による殺菌処理において、より効率的に紫外線を利用する。 【解決手段】紫外線照射装置は、紫外線によって対象物を殺菌する紫外線照射装置であって、前記対象物を収容可能な収容部と、前記収容部に取り付けられ、前記収容部の内部に向けて紫外線を照射可能な複数のLEDと、前記収容部の内面に設けられた拡散反射コーティングとを備える。 【選択図】図1

公开(公告)号：JP6492220B1

公开(公告)日：2019-03-27

申请号：JP2018180546

申请日：2018-09-26

Applicant: 大塚電子株式会社

Inventor： 大久保 和明 ,  菊池 正博

IPC: G01M11/00 ,  G01J1/02

Abstract: 【課題】従来の測定方法において生じる課題を解決する。 【解決手段】測定システムは、互いに対向する位置に形成された入射窓および試料窓を有する積分器と、試料窓から所定距離だけ離れた位置に形成された観測窓を通じて、積分器の照度を測定する受光器と、積分器内の試料窓と観測窓とを結ぶ光学経路上に配置されたバッフルと、受光器から出力される測定値を処理することで光学特性を算出する処理装置とを含む。入射窓は、積分器の外部に配置された第1の光源からの光の積分器内への導入と遮断とを選択可能に構成されている。試料窓は、反射率が既知の拡散反射部材と第2の光源とを選択的に装着可能に構成されている。 【選択図】図1

公开(公告)号：JP5959644B2

公开(公告)日：2016-08-02

申请号：JP2014527834

申请日：2012-07-30

Applicant: 大塚電子株式会社

Inventor： 大久保 和明 ,  白岩 久志

IPC: G01J1/00

CPC classification number: G01J1/06 ,  G01J1/0223 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/4257 ,  G01J1/0488 ,  G01J2001/4247