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公开(公告)号：CN103674496B
公开(公告)日：2016-05-25
申请号：CN201310718047.7
申请日：2013-12-23
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方显示技术有限公司
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G02F1/1309 , G01J1/0223 , G01J1/42 , G01J3/505 , G01J2001/4247 , G01J2001/4252 , G09G2320/0693
Abstract: 本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种光源发光特性检测装置。该光源发光特性检测装置包括：用于固定光源的定位机构；以及，用于采集所述光源出射光参数的检测设备。本发明所提供的光源发光特性检测装置，通过设置用于固定光源定位机构以及用于采集所述光源出射光参数的检测设备，从而能够针对光源进行发光特性检测，进而帮助选择出显示模组所需光源的色度以及亮度等级，实现了缩短液晶显示器研发制作周期的目的。
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公开(公告)号：CN101893479A
公开(公告)日：2010-11-24
申请号：CN201010182880.0
申请日：2010-05-21
Applicant: 大*电子株式会社
CPC classification number: G01J1/02 , G01J1/0219 , G01J1/0223 , G01J1/04 , G01J1/0403 , G01J1/0448 , G01J2001/0481
Abstract: 本发明提供一种总光通量测量装置以及总光通量测量方法。在按照本实施方式的总光通量测量装置(100)中，根据在使对象物(OBJ)和积分部(10)相对移动以使对象物(OBJ)实质上全部的发光面暴露于积分部(10)的内部空间的情况下由测量部(21)测量照度的测量结果，来算出对象物(OBJ)所放射出的总光通量。即，在将对象物(OBJ)配置为从一个试样孔到另一个试样孔贯穿积分部(10)之后，测量对象物(OBJ)位于积分部(10)的内部空间的部分的光通量，接着，使积分部(10)相对于对象物(OBJ)相对移动，同样地测量对象物(OBJ)位于积分部(10)的内部空间的部分的光通量。
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公开(公告)号：CN106872023A
公开(公告)日：2017-06-20
申请号：CN201710295197.X
申请日：2017-04-28
Applicant: 远方谱色科技有限公司
CPC classification number: G01J1/0223 , G01J1/0271 , G01J1/42 , G01J2001/4247
Abstract: 本发明公开一种机器人分布光度计，包括一个机器人和一个或以上旋转工作台，所述的机器人包括一个由地面支撑的底座、三个或以上的转动轴、转臂和位于转臂末端的夹持装置；所述的旋转工作台具有水平旋转轴和/或垂直旋转轴；被测对象安装在机器人的夹持装置上或者设置在旋转工作台上；用于接收来自被测对象光辐射信号的光学探测器设置在旋转工作台或者机器人的夹持装置上。本发明充分发挥机器人分布光度计测量方式多样的优点，结合机器人、旋转工作台、支架和滑动导轨，提高了机器人分布光度计测量的灵活性，并且根据被测对象的种类、照明环境的要求，调整光学探测器的组合及具体测试方案，具有测试效率高、测量精度高、灵活性强等特点。
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公开(公告)号：CN104246456A
公开(公告)日：2014-12-24
申请号：CN201280072460.4
申请日：2012-07-30
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01J1/00
CPC classification number: G01J1/06 , G01J1/0223 , G01J1/0403 , G01J1/0488 , G01J1/4257 , G01J2001/4247
Abstract: 本发明提供一种光学测量装置(1)，包括：中空的圆筒状构件(2)，其在一个平面上具有第一开口(10)，并且在另一平面上具有第二开口(18)；旋转机构(52、54)，其用于使圆筒状构件绕圆筒状构件的中心轴即第一轴线旋转；支承部(20、22)，其用于将光源(30)配置于测量位置，该测量位置在第一轴线上，且该测量位置为所照射的光穿过第一开口而入射到圆筒状构件的内部的位置；第一反射部(12)，其配置在圆筒状构件的内部，用于反射从光源穿过第一开口而入射的光；第二反射部(14)，其用于反射圆筒状构件的内部的光，使该光穿过第二开口而沿第一轴线向圆筒状构件的外部传播；以及至少一个的第三反射部(16)，其用于使第一反射部的反射光入射到第二反射部。
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公开(公告)号：CN103424186A
公开(公告)日：2013-12-04
申请号：CN201210157273.8
申请日：2012-05-18
Applicant: 全亿大科技(佛山)有限公司 , 鸿准精密工业股份有限公司
Inventor： 刘泰健
CPC classification number: G01J1/0252 , G01J1/0223 , G01J2001/4252 , G01R31/2635 , G01R31/44
Abstract: 一种检测发光二极管光源(LED)的通用量具，包括一壳部及一测试部；其中该壳部为至少朝一端开口以安装测试部的中空柱体；该测试部包括设在该开口端部的一载板及在该载板朝壳部内侧延伸的鳍片，该载板的中部设有贯通载板的至少一气孔，该气孔连通壳部外的真空泵，在载板的外侧端面邻近该气孔的任意两对角侧设置已连通外部控制电源用以导引正、负电压的至少一对电极，在该载板的外侧嵌设一围绕该电极与气孔以使LED在恒温下测试的环状制冷芯片，该壳部的底部还设有将冷却气流导向鳍片的一风扇，当待测LED背向出光面的中部抵靠该气孔时，藉由该泵提供的吸力将该LED贴附在载板上，并使LED底部极板和该对电极对应连通以对LED供电。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106233104B
公开(公告)日：2018-01-09
申请号：CN201580021754.8
申请日：2015-02-26
Applicant: 赛西蒂系统股份有限公司
Inventor： 克里斯·巴纳德
CPC classification number: G01J1/4228 , G01J1/0223 , G01J1/0242 , G01J2001/4247
Abstract: 本发明揭示一种用于测量具有未知特性的照明器的照明特性的方法及相关联设备。所述方法包含以下步骤：在接近于安装部位的已知部位中提供经校准光检测器阵列，及接着用具有未知照明性质的照明器照明所述阵列。使用所得数据来计算发光强度对与所述照明器的角度及所述照明器的发光通量。本发明呈现用已知照明器校准测量的方法以及确定所述阵列中的所述检测器的角位置的方法。可使用色敏检测器来确定角分布及所述照明器的相关色温的平均值。
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公开(公告)号：CN106233104A
公开(公告)日：2016-12-14
申请号：CN201580021754.8
申请日：2015-02-26
Applicant: 赛西蒂系统股份有限公司
Inventor： 克里斯·巴纳德
CPC classification number: G01J1/4228 , G01J1/0223 , G01J1/0242 , G01J2001/4247 , G01J1/44 , G01J2001/4252
Abstract: 本发明揭示一种用于测量具有未知特性的照明器的照明特性的方法及相关联设备。所述方法包含以下步骤：在接近于安装部位的已知部位中提供经校准光检测器阵列，及接着用具有未知照明性质的照明器照明所述阵列。使用所得数据来计算发光强度对与所述照明器的角度及所述照明器的发光通量。本发明呈现用已知照明器校准测量的方法以及确定所述阵列中的所述检测器的角位置的方法。可使用色敏检测器来确定角分布及所述照明器的相关色温的平均值。
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公开(公告)号：CN103292978A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310054909.0
申请日：2013-02-20
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01M11/02
CPC classification number: F21V21/14 , G01J1/0223 , G01J1/0228 , G01J1/0242 , G01J2001/4247
Abstract: 本发明提供光源支承装置及采用该光源支承装置的光辐射特性测定装置。该光源支承装置包括：基座部；第1支承部，其用于将基座部能够绕第1轴旋转地支承；第1臂部和第2臂部，其分别连接于基座部的两端，沿着与第1轴平行的方向延伸；一对第2支承部，其设置在第1臂部和第2臂部的彼此面对的各个位置，用于支承被测定光源。一对第2支承部构成为使所支承的被测定光源能够绕与第1轴垂直的第2轴旋转。第1臂部和第2臂部中的至少一个臂部相对于基座部装卸自如。
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公开(公告)号：CN106104231A
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201480077334.7
申请日：2014-08-20
Applicant: 伊斯梅卡半导体控股公司
Inventor： S.维翼诺特
CPC classification number: G01J1/044 , G01J1/0214 , G01J1/0223 , G01J1/0271 , G01J1/0474 , G01J1/42 , G01J2001/0481 , G01J2001/4252
Abstract: 一种用于测量电子部件（3）的光特性的测试装置（1），所述测试装置（1）包括，在一端处的入口（5），电子部件（3）能够呈于所述入口处以便测试；位于入口处的开闭器（7），其中，所述开闭器（7）配置为能够在第一打开位置与第二关闭位置之间运动，在所述第一打开位置中，待测试的电子部件（3）能够被接收在所述入口（5）中，且在所述第二关闭位置中，所述开闭器（7）能够覆盖所述电子部件（3）支撑于其上的座（9）的至少大部分，使得所述开闭器能够防止由所述座（9）的至少大部分使由所述电子部件（3）发射的光转向离开所述测试装置（1），其中，所述开闭器（7）包括至少一个滑动门(15a、15b)，能够使所述至少一个滑动门（15a、15b）滑动以使所述开闭器运动至其第一打开位置，并且能够使所述至少一个滑动门（15a、15b）滑动以使所述开闭器（7）运动至其第二关闭位置，并且其中，所述至少一个滑动门（15a、15b）包括切口部分（17），当所述开闭器（7）处于其第二关闭位置中时，所述切口部分（17）限定所述开口（11）。还提供了包括所述测试装置（1）的组件。
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公开(公告)号：CN101893479B
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：CN201010182880.0
申请日：2010-05-21
Applicant: 大*电子株式会社
CPC classification number: G01J1/02 , G01J1/0219 , G01J1/0223 , G01J1/04 , G01J1/0403 , G01J1/0448 , G01J2001/0481
Abstract: 本发明提供一种总光通量测量装置以及总光通量测量方法。在按照本实施方式的总光通量测量装置(100)中，根据在使对象物(OBJ)和积分部(10)相对移动以使对象物(OBJ)实质上全部的发光面暴露于积分部(10)的内部空间的情况下由测量部(21)测量照度的测量结果，来算出对象物(OBJ)所放射出的总光通量。即，在将对象物(OBJ)配置为从一个试样孔到另一个试样孔贯穿积分部(10)之后，测量对象物(OBJ)位于积分部(10)的内部空间的部分的光通量，接着，使积分部(10)相对于对象物(OBJ)相对移动，同样地测量对象物(OBJ)位于积分部(10)的内部空间的部分的光通量。
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