-
公开(公告)号：CN101051212A
公开(公告)日：2007-10-10
申请号：CN200710089190.9
申请日：2007-03-21
Applicant: 大宇电子株式会社
IPC: G03H1/22 , G03H1/00 , G11B7/0065
Abstract: 本发明提供了一种光学信息再现设备及使用其的光学信息再现方法。该光学信息再现设备包括：参考光束提供单元，该参考光束提供单元向光学信息记录介质上的待再现的再现记录区和在该再现记录区周围的周边记录区输入参考光束；周边光束检测单元，该周边光束检测单元使响应于所述参考光束从所述再现记录区再现的再现光束透射，并检测从所述周边记录区再现的周边光束；跟踪伺服单元，该跟踪伺服单元对检测到的周边光束的光学信息进行分析并控制跟踪位置；以及再现光束检测单元，该再现光束检测单元检测已穿过所述周边光束检测单元的再现光束。因此，可以使用周边光束而判断当前跟踪状态，并且在再现光学信息时使用该判断的结果而进行跟踪伺服控制处理。
-
公开(公告)号：CN100582965C
公开(公告)日：2010-01-20
申请号：CN200710089190.9
申请日：2007-03-21
Applicant: 大宇电子株式会社
IPC: G03H1/22 , G03H1/00 , G11B7/0065
Abstract: 本发明提供了一种光学信息再现设备及使用其的光学信息再现方法。该光学信息再现设备包括：参考光束提供单元，该参考光束提供单元向光学信息记录介质上的待再现的再现记录区和在该再现记录区周围的周边记录区输入参考光束；周边光束检测单元，该周边光束检测单元使响应于所述参考光束从所述再现记录区再现的再现光束透射，并检测从所述周边记录区再现的周边光束；跟踪伺服单元，该跟踪伺服单元对检测到的周边光束的光学信息进行分析并控制跟踪位置；以及再现光束检测单元，该再现光束检测单元检测已穿过所述周边光束检测单元的再现光束。因此，可以使用周边光束而判断当前跟踪状态，并且在再现光学信息时使用该判断的结果而进行跟踪伺服控制处理。
-
公开(公告)号：CN100492501C
公开(公告)日：2009-05-27
申请号：CN200610107414.X
申请日：2006-07-20
Applicant: 大宇电子株式会社
IPC: G11B7/0065 , G11B7/13 , G03H1/22
CPC classification number: H03M5/145 , G11B7/0065 , G11B20/18 , G11B2220/2504 , H04N5/90
Abstract: 提供了一种光信息检测方法、光信息检测器、数据采样方法。该光信息检测方法包括以下步骤：通过使用1∶N过量检测像素，对以均衡码字编码的源数据页的图像进行检测，其中N大于1；通过使用被检测图像的光强分布，确定被检测图像中的有效检测像素和待校正的无效检测像素的分布模式；以及将被检测图像分成与所述均衡码字相对应的多个均衡码字检测区，并通过使用确定的分布模式和所述均衡码字的光分布特性，对所述多个均衡码字检测区的数据进行采样。因此，可以通过使用1∶N过采样方法对光信息进行高效的检测。具体来说，可以正确地使用数据页的被检测图像中的有效检测像素和无效检测像素的分布模式，来对均衡码进行采样。
-
公开(公告)号：CN101030392A
公开(公告)日：2007-09-05
申请号：CN200610107414.X
申请日：2006-07-20
Applicant: 大宇电子株式会社
IPC: G11B7/0065 , G11B7/13 , G03H1/22
CPC classification number: H03M5/145 , G11B7/0065 , G11B20/18 , G11B2220/2504 , H04N5/90
Abstract: 提供了一种光信息检测方法、光信息检测器、数据采样方法。该光信息检测方法包括以下步骤：通过使用1∶N过量检测像素，对以均衡码字编码的源数据页的图像进行检测，其中N大于1；通过使用被检测图像的光强分布，确定被检测图像中的有效检测像素和待校正的无效检测像素的分布模式；以及将被检测图像分成与所述均衡码字相对应的多个均衡码字检测区，并通过使用确定的分布模式和所述均衡码字的光分布特性，对所述多个均衡码字检测区的数据进行采样。因此，可以通过使用1∶N过采样方法对光信息进行高效的检测。具体来说，可以正确地使用数据页的被检测图像中的有效检测像素和无效检测像素的分布模式，来对均衡码进行采样。
-
-
-
Search Results
4
records
(took 0.036 seconds)
