公开(公告)号：CN101726361B

公开(公告)日：2013-08-21

申请号：CN200910178173.1

申请日：2009-10-15

Applicant: 大*电子株式会社

Inventor： 佐野弘幸 ,  大川内真 ,  大岛浩正 ,  大久保和明 ,  水口勉 ,  志摩史郎

IPC: G01J3/28 ,  G01J1/42 ,  G01J3/46 ,  G01M11/02

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J1/0219 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/28

Abstract: 提供一种适于光谱测定的光学特性测定装置以及光学特性测定方法。处理部在遮断向壳体入射的光后获取在与来自分光器的光的入射面对应的第一检测区域检测到的第一光谱和在与来自分光器的光的入射面不同的第二检测区域检测到的第一信号强度，接着，从第一光谱的各成分值中减去根据第一信号强度算出的第一校正值来算出第一校正光谱。处理部在打开遮断部的状态下获取在第一检测区域检测到的第二光谱和在第二检测区域检测到的第二信号强度，接着，从第二光谱的各成分值中减去根据第二信号强度算出的第二校正值来算出第二校正光谱。最终，处理部从第二校正光谱的各成分值中减去第一校正光谱的对应的成分值来算出作为测定结果的输出光谱。

公开(公告)号：CN101726361A

公开(公告)日：2010-06-09

申请号：CN200910178173.1

申请日：2009-10-15

Applicant: 大电子株式会社

Inventor： 佐野弘幸 ,  大川内真 ,  大岛浩正 ,  大久保和明 ,  水口勉 ,  志摩史郎

IPC: G01J3/28 ,  G01J1/42 ,  G01J3/46 ,  G01M11/02

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J1/0219 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/28

Abstract: 提供一种适于光谱测定的光学特性测定装置以及光学特性测定方法。处理部在遮断向壳体入射的光后获取在与来自分光器的光的入射面对应的第一检测区域检测到的第一光谱和在与来自分光器的光的入射面不同的第二检测区域检测到的第一信号强度，接着，从第一光谱的各成分值中减去根据第一信号强度算出的第一校正值来算出第一校正光谱。处理部在打开遮断部的状态下获取在第一检测区域检测到的第二光谱和在第二检测区域检测到的第二信号强度，接着，从第二光谱的各成分值中减去根据第二信号强度算出的第二校正值来算出第二校正光谱。最终，处理部从第二校正光谱的各成分值中减去第一校正光谱的对应的成分值来算出作为测定结果的输出光谱。