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公开(公告)号：CN119766245A
公开(公告)日：2025-04-04
申请号：CN202411835083.6
申请日：2024-12-13
Applicant: 季华实验室
IPC: H03M1/50 , H03K5/14 , H03K5/1534 , G04F10/00
Abstract: 本申请涉及可扩展量程的多事件时数转换器，包括：T触发器阵列，其用于根据采集事件的时序对结束信号进行编码，以将结束信号生成边沿变化信号；TDC延迟链，其用于将边沿变化信号在每个延迟单元中生成边沿变化信号的时间标记；异或门模块，其用于根据边沿变化信号的时间标记进行逻辑判断，以确定采集事件的事件分布；D触发器阵列，其用于在每个粗计数时钟周期内对采集事件的事件分布进行锁存并存入相应的存储单元；直方图统计模块，其用于将采集事件的结束信号与开始信号之间的时间差分发至各个时间区间范围，以生成M个粗计数时钟周期的采集事件的事件分布的统计直方图。本申请能够大幅提升多事件时数转换器的量程，还能保持高的时间测量精度。
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公开(公告)号：CN118776831B
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202411266828.1
申请日：2024-09-11
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请涉及一种单光子探测器探测效率测量方法、装置、设备及介质，其涉及单光子探测技术领域，方法包括：获取事件刷新时数转换器中待测量单光子探测器在同一波长的每个光脉冲作用下产生的时间间隔数据，计算确定时间间隔数据落入预设的统计直方图的统计子区间的概率密度，以确定待测量单光子探测器在每个光脉冲照射下的时域光子概率分布；采用预设的光电子计数模型对时域光子概率分布进行拟合，以确定待测量单光子探测器在单个光脉冲作用下探测到的平均光电子数；基于平均入射光子数以及平均光电子数确定待测量单光子探测器的探测效率，以完成单光子探测器探测效率的测量。本申请极大地提高了测量效率的同时，显著提高了探测效率谱的测量精度。
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公开(公告)号：CN118010319B
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202410411200.X
申请日：2024-04-08
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及光学技术领域，并公开一种光束均匀性检测系统和光束均匀性检测方法，所述光束均匀性检测系统包括光分割模块、光切换模块以及光采集模块，所述光分割模块用于将待测准直光束分割为多个子光束，并位于所述待测准直光束的传播路径；所述光切换模块与所述光分割模块连接，所述光切换模块用于接收多个所述子光束，并能够控制切换任一所述子光束独立输出；所述光采集模块与所述光切换模块远离所述光分割模块的一端连接，并用于检测每一输出的所述子光束的光功率。在本发明技术方案中，无需采用机械移动即能实现光束均匀性的测量，并且所述光分割模块能够适应一定范围内的光斑尺寸的大小，适应性广且测量精度更高。
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公开(公告)号：CN118837343A
公开(公告)日：2024-10-25
申请号：CN202411139773.8
申请日：2024-08-20
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请公开了一种多脉冲激发荧光磷光同时寿命成像装置及方法，包括：光子计数探测器从荧光共聚焦显微成像系统中探测待检测样品的荧光光子以及磷光光子，并将荧光光子以及磷光光子以光子事件的方式发送给多事件时间数字转换器；多事件时间数字转换器根据开始信号、捕获时钟以及光子事件进行直方图统计，并输出事件分布信息，以确定直方图数据，中央处理模块根据直方图数据确定待检测样品的不同像素的荧光寿命成像信息以及磷光寿命成像信息。本申请能够极大提高了荧光寿命成像以及磷光寿命成像的速度以及准确率。
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公开(公告)号：CN118776831A
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202411266828.1
申请日：2024-09-11
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请涉及一种单光子探测器探测效率测量方法、装置、设备及介质，其涉及单光子探测技术领域，方法包括：获取事件刷新时数转换器中待测量单光子探测器在同一波长的每个光脉冲作用下产生的时间间隔数据，计算确定时间间隔数据落入预设的统计直方图的统计子区间的概率密度，以确定待测量单光子探测器在每个光脉冲照射下的时域光子概率分布；采用预设的光电子计数模型对时域光子概率分布进行拟合，以确定待测量单光子探测器在单个光脉冲作用下探测到的平均光电子数；基于平均入射光子数以及平均光电子数确定待测量单光子探测器的探测效率，以完成单光子探测器探测效率的测量。本申请极大地提高了测量效率的同时，显著提高了探测效率谱的测量精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118111559A
公开(公告)日：2024-05-31
申请号：CN202410116051.4
申请日：2024-01-29
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请涉及线阵SPAD阵列拼接结构及光谱仪、时间门控拉曼光谱仪，所述线阵SPAD阵列拼接结构包括：三个SPAD线阵芯片以平行交错的拼接方式以及板上芯片封装的方式固定在PCB板上，其中，SPAD线阵芯片的感光区域通过所述SPAD线阵芯片上的导线连接到所述SPAD线阵芯片上的电路模块，传感器电源和输入、输出I/O口通过Pi n管脚与外界设备相连接，Pi n管脚通过跳线绑定到PCB板的Pad管脚上，PCB板将三个SPAD线阵芯片的所述传感器电源和输入、输出I/O口整合，与数据处理设备连接，PCB板的小孔与外壳固定，光透过光窗以防止光敏区污染。本申请能够保证光谱PDE的同时在可见光有好的时间抖动性能，满足时间门控拉曼的信噪比和荧光抑制的要求。
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公开(公告)号：CN118010319A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202410411200.X
申请日：2024-04-08
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及光学技术领域，并公开一种光束均匀性检测系统和光束均匀性检测方法，所述光束均匀性检测系统包括光分割模块、光切换模块以及光采集模块，所述光分割模块用于将待测准直光束分割为多个子光束，并位于所述待测准直光束的传播路径；所述光切换模块与所述光分割模块连接，所述光切换模块用于接收多个所述子光束，并能够控制切换任一所述子光束独立输出；所述光采集模块与所述光切换模块远离所述光分割模块的一端连接，并用于检测每一输出的所述子光束的光功率。在本发明技术方案中，无需采用机械移动即能实现光束均匀性的测量，并且所述光分割模块能够适应一定范围内的光斑尺寸的大小，适应性广且测量精度更高。
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公开(公告)号：CN115517633B
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202211507539.7
申请日：2022-11-29
Applicant: 季华实验室
IPC: A61B5/00 , A61B5/0507
Abstract: 本公开涉及一种成像装置，该装置包括收发调制组件、光纤组件和信号处理组件；收发调制组件连接光纤组件，光纤组件连接信号处理组件；收发调制组件用于向被测物发射第一电场脉冲，接收被测物反射的第二电场脉冲，以及用于将第二电场脉冲转换为微波调制光信号，并通过光纤组件将微波调制光信号传输至信号处理组件；信号处理组件用于基于微波调制光信号确定被测物的微波图像。如此，本公开避免了现有方案中电信号受到电磁干扰，微波调制光信号在传输的过程中不会受到色散、干扰等影响而产生较大的失真，因此不会导致波形畸变，避免了对成像结果产生影响。
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公开(公告)号：CN115517633A
公开(公告)日：2022-12-27
申请号：CN202211507539.7
申请日：2022-11-29
Applicant: 季华实验室
IPC: A61B5/00 , A61B5/0507
Abstract: 本公开涉及一种成像装置，该装置包括收发调制组件、光纤组件和信号处理组件；收发调制组件连接光纤组件，光纤组件连接信号处理组件；收发调制组件用于向被测物发射第一电场脉冲，接收被测物反射的第二电场脉冲，以及用于将第二电场脉冲转换为微波调制光信号，并通过光纤组件将微波调制光信号传输至信号处理组件；信号处理组件用于基于微波调制光信号确定被测物的微波图像。如此，本公开避免了现有方案中电信号受到电磁干扰，微波调制光信号在传输的过程中不会受到色散、干扰等影响而产生较大的失真，因此不会导致波形畸变，避免了对成像结果产生影响。
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公开(公告)号：CN119164487A
公开(公告)日：2024-12-20
申请号：CN202411669015.7
申请日：2024-11-21
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种光谱仪，涉及光谱测量仪器技术领域，其中，光谱仪包括第一光学套筒、准直系统、光学套壳、色散系统、第二光学套筒、聚焦镜以及探测器，准直系统包括入射狭缝和准直透镜，入射狭缝的光轴与准直透镜的光轴对齐，以形成光路；光学套壳与第一光学套筒远离入射狭缝的一端连接；色散系统包括至少两个并排间隔设置的透射光栅，各透射光栅设于光学套壳内，并位于准直透镜的出光光路上；第二光学套筒与光学套壳远离第一光学套筒的一端转动连接；聚焦镜设于第二光学套筒内，并位于透射光栅的出光光路上；探测器设于第二光学套筒远离光学套壳的一端，并位于聚焦镜的焦平面上；本方案能实现光谱范围和光谱分辨率的调节。
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