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公开(公告)号:CN116030861A
公开(公告)日:2023-04-28
申请号:CN202310038973.3
申请日:2023-01-12
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/412 , G11C11/419
Abstract: 本发明涉及集成电路设计技术领域,更具体的,涉及一种具有高稳定性的MOSFET‑TFET混合型14T‑SRAM单元电路,和使用了该种14T‑SRAM单元电路封装而成的模块。本发明采用MOSFET晶体管作为SRAM的传输管,消除了当TFET晶体管用作SRAM单元的传输晶体管时出现正偏p‑i‑n电流的问题;采用两个施密特型反相器构成锁存结构,利用MOSFET晶体管N9、N10对每个反相器的反馈作用,可改善TFET器件的延迟输出饱和特性,提高SRAM单元的稳定性;采用PTFET晶体管P1、P2作为写操作时的上拉电路结构,可降低SRAM单元的写功耗;采用NTFET晶体管N5、N6构成读电路部分,可提高SRAM单元的读能力和读速度。