一种X射线测厚仪标定方法

    公开(公告)号:CN104930993A

    公开(公告)日:2015-09-23

    申请号:CN201510330854.0

    申请日:2015-06-15

    Abstract: 本发明实施例公开了一种X射线测厚仪标定方法,包括:获取预设的标定后的对数线性模型和双指数模型表;对被测物体进行测量,获得被测物体削弱后的X射线的强度值I;采用所述标定后的对数线性模型依据所述强度值I计算得到被测物体的厚度值X1;判断所述厚度值X1是否大于预设值,如果是,将所述厚度值X1作为所述被测物体的厚度输出,否则,依据所述双指数模型表查找所述强度值I所匹配的厚度值X2,将所述厚度值X2作为所述被测物体的厚度输出,从而实现了被测物体厚度值的确定。

    一种测厚仪
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104930992B

    公开(公告)日:2016-04-06

    申请号:CN201510330829.2

    申请日:2015-06-15

    Abstract: 一种测厚仪,包括:X射线高压电源,X射线管,X射线探测传感器,与所述X射线探测传感器相连的厚度检测拟合单元,所述X射线高压电源的第一输出端与所述X射线管的阳极相连,用于向所述X射线管阳极输入可调节直流高压;所述X射线高压电源的第二输出端与所述X射线管的阴极灯丝相连,用于向所述X射线管的阴极灯丝输入可调节交流电流。用户可通过对所述X射线高压电源输出的可调节直流高压和可调节交流电流的大小进行调节,进而调节X射线管的输出的射线强度和射线能谱,所述射线能谱的调节可使得所述被测物体所吸收的粒子数量减少,使得X射线穿过被测物体后的剩余射线强度与板材厚度更趋近于指数递减规律,提高了测量精度。

    一种X射线测厚仪标定方法

    公开(公告)号:CN104930993B

    公开(公告)日:2016-04-06

    申请号:CN201510330854.0

    申请日:2015-06-15

    Abstract: 本发明实施例公开了一种X射线测厚仪标定方法,包括:获取预设的标定后的对数线性模型和双指数模型表;对被测物体进行测量,获得被被测物体削弱后的X射线的强度值I;采用所述标定后的对数线性模型依据所述强度值I计算得到被测物体的厚度值X1;判断所述厚度值X1是否大于预设值,如果是,将所述厚度值X1作为所述被测物体的厚度输出,否则,依据所述双指数模型表查找所述强度值I所匹配的厚度值X2,将所述厚度值X2作为所述被测物体的厚度输出,从而实现了被测物体厚度值的确定。

    一种测厚仪
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104930992A

    公开(公告)日:2015-09-23

    申请号:CN201510330829.2

    申请日:2015-06-15

    CPC classification number: G01B15/02

    Abstract: 一种测厚仪,包括:X射线高压电源,X射线管,X射线探测传感器,与所述X射线探测传感器相连的厚度检测拟合单元,所述X射线高压电源的第一输出端与所述X射线管的阳极相连,用于向所述X射线管阳极输入可调节直流高压;所述X射线高压电源的第二输出端与所述X射线管的阴极灯丝相连,用于向所述X射线管的阴极灯丝输入可调节交流电流。用户可通过对所述X射线高压电源输出的可调节直流高压和可调节交流电流的大小进行调节,进而调节X射线管的输出的射线强度和射线能谱,所述射线能谱的调节可使得所述被测物体所吸收的粒子数量减少,使得X射线穿过被测物体后的剩余射线强度与板材厚度更趋近于指数递减规律,提高了测量精度。

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