公开(公告)号：CN114207499B

公开(公告)日：2024-11-22

申请号：CN202080056811.7

申请日：2020-08-04

Applicant: 富士胶片株式会社

Inventor： 宇都宫大介

IPC: G02B23/24 ,  A61B1/06 ,  A61B1/045 ,  A61B1/00

Abstract: 本发明提供一种能够将与光源装置、内窥镜及处理器装置相关的设定条件设为能够检测测量光照射区域的位置的状态等的内窥镜系统及其工作方法。模式控制部(56)进行如下控制中的至少一个：在进行了向测长模式的切换操作时，与光源装置(14)、内窥镜(12)或处理器装置(16)相关的设定条件符合禁止设定条件的情况下，禁止向测长模式的切换的第1控制；在测长模式中，通过设定变更操作欲变更的设定条件符合禁止设定条件的情况下，使设定变更操作无效的第2控制；或从测长模式切换到其他模式的第3控制。

公开(公告)号：CN114286961B

公开(公告)日：2025-02-25

申请号：CN202080060690.3

申请日：2020-08-24

Applicant: 富士胶片株式会社

Inventor： 宇都宫大介

IPC: G02B23/24 ,  A61B1/06 ,  A61B1/00 ,  G02B23/26

Abstract: 本发明提供一种能够稳定地检测测量用光束光的照射区域的内窥镜系统及其工作方法。接收部(38)获取包括通过测量用光束光的照射而出现在被摄体中的光斑(SP)的被摄体图像。照射区域识别部(58)从被摄体图像中识别光斑(SP)的位置。照射区域识别部(58)识别具有圆形图案的光斑(SP)，该圆形图案包括白色中心区域(CR1)和覆盖中心区域(CR1)的周围并具有基于测量用光束光的特征量的周边区域(SR1)。

公开(公告)号：CN114207499A

公开(公告)日：2022-03-18

申请号：CN202080056811.7

申请日：2020-08-04

Applicant: 富士胶片株式会社

Inventor： 宇都宫大介

IPC: G02B23/24

Abstract: 本发明提供一种能够将与光源装置、内窥镜及处理器装置相关的设定条件设为能够检测测量光照射区域的位置的状态等的内窥镜系统及其工作方法。模式控制部(56)进行如下控制中的至少一个：在进行了向测长模式的切换操作时，与光源装置(14)、内窥镜(12)或处理器装置(16)相关的设定条件符合禁止设定条件的情况下，禁止向测长模式的切换的第1控制；在测长模式中，通过设定变更操作欲变更的设定条件符合禁止设定条件的情况下，使设定变更操作无效的第2控制；或从测长模式切换到其他模式的第3控制。

公开(公告)号：CN114286961A

公开(公告)日：2022-04-05

申请号：CN202080060690.3

申请日：2020-08-24

Applicant: 富士胶片株式会社

Inventor： 宇都宫大介

IPC: G02B23/24

Abstract: 本发明提供一种能够稳定地检测测量用光束光的照射区域的内窥镜系统及其工作方法。接收部(38)获取包括通过测量用光束光的照射而出现在被摄体中的光斑(SP)的被摄体图像。照射区域识别部(58)从被摄体图像中识别光斑(SP)的位置。照射区域识别部(58)识别具有圆形图案的光斑(SP)，该圆形图案包括白色中心区域(CR1)和覆盖中心区域(CR1)的周围并具有基于测量用光束光的特征量的周边区域(SR1)。

公开(公告)号：CN1702681A

公开(公告)日：2005-11-30

申请号：CN200510069771.7

申请日：2005-04-05

Applicant: 富士胶片株式会社

Inventor： 宇都宫大介

IPC: G06K7/10

CPC classification number: G01J1/08 ,  G01J1/04 ,  G01J1/0403

Abstract: 本发明涉及一种测量装置，该测量装置测量一个光电传感器的灵敏度分布和光电地探测一种物质，该光电传感器包括一个用于从外部投射探测光的投光器元件和一个用于接收从外部反射的探测光的感光器元件。该测量装置包括一个测试面板，该测试面板具有一个形成在它表面上并至少呈两种颜色的测试图案，用于为了检查通过光电传感器被光电地读取。一种移动机构相对于光电传感器以常规速度移动测试面板。一个控制器激励移动机构，并估算来自感光器元件的输出，以便根据其来确定光电传感器的灵敏度分布。光电传感器的灵敏度分布最初以二维方式表示。而且，根据获得的多个灵敏度分布确定以三维方式表示的光电传感器的灵敏度分布。