公开(公告)号：CN102033670B

公开(公告)日：2015-02-04

申请号：CN201010502917.3

申请日：2010-09-28

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 井上欣也 ,  藤田博 ,  仁川进

IPC: G06F3/044

CPC classification number: G06F3/0418 ,  G06F3/044

Abstract: 本发明涉及输入装置、输入处理程序以及输入控制方法，该输入装置包括：电容测量单元，其测量触摸板上设置的多个电极的电容；变形确定单元，其基于所述电极的电容的结果的分布来确定所述触摸板中是否出现变形；以及坐标输出单元，其基于所述结果的分布来输出所述触摸板上的操作输入的坐标数据。

公开(公告)号：CN102033670A

公开(公告)日：2011-04-27

申请号：CN201010502917.3

申请日：2010-09-28

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 井上欣也 ,  藤田博 ,  仁川进

IPC: G06F3/044

CPC classification number: G06F3/0418 ,  G06F3/044

Abstract: 本发明涉及输入装置、输入处理程序以及输入控制方法，该输入装置包括：电容测量单元，其测量触摸板上设置的多个电极的电容；变形确定单元，其基于所述电极的电容的结果的分布来确定所述触摸板中是否出现变形；以及坐标输出单元，其基于所述结果的分布来输出所述触摸板上的操作输入的坐标数据。