-
公开(公告)号:CN100378942C
公开(公告)日:2008-04-02
申请号:CN200410103607.9
申请日:2004-12-27
Applicant: 富士通株式会社
CPC classification number: H04N17/002
Abstract: 本发明涉及摄像元件测试方法及装置,其目的是在将被测元件安装在测试台的状态下,在一个阶段自动进行各种测试。本发明是用于进行摄像元件的电气测试,图像测试,透镜的聚焦、固定的摄像元件测试装置,其包括:自动调焦机构(20),自动进行被测元件(2)的调焦;图像测试显示单元(23),显示用于测试被测元件(2)的图像读取功能的图案;电气测试、图像测试单元(22),进行被测元件(2)的电气测试、图像测试;闪烁测试装置(27),用于进行闪烁测试;移动装置,使所述各种构成元素根据需要移动;系统控制单元(30),用于控制整体的动作。
-
公开(公告)号:CN1638081A
公开(公告)日:2005-07-13
申请号:CN200410103607.9
申请日:2004-12-27
Applicant: 富士通株式会社
CPC classification number: H04N17/002
Abstract: 本发明涉及摄像元件测试方法及装置,其目的是在将被测元件安装在测试台的状态下,在一个阶段自动进行各种测试。本发明是用于进行摄像元件的电气测试,图像测试,透镜的聚焦、固定的摄像元件测试装置,其包括:自动调焦机构(20),自动进行被测元件(2)的调焦;图像测试显示单元(23),显示用于测试被测元件(2)的图像读取功能的图案;电气测试、图像测试单元(22),进行被测元件(2)的电气测试、图像测试;闪烁测试装置(27),用于进行闪烁测试;移动装置,使所述各种构成元素根据需要移动;系统控制单元(30),用于控制整体的动作。
-
公开(公告)号:CN1271711C
公开(公告)日:2006-08-23
申请号:CN02123002.1
申请日:2002-06-13
Applicant: 富士通株式会社
CPC classification number: H01L23/3107 , H01L23/49541 , H01L23/66 , H01L24/48 , H01L24/49 , H01L2224/05554 , H01L2224/05599 , H01L2224/45099 , H01L2224/48091 , H01L2224/48247 , H01L2224/48253 , H01L2224/49113 , H01L2224/49171 , H01L2224/49433 , H01L2224/85399 , H01L2924/00014 , H01L2924/01057 , H01L2924/181 , H01L2924/3011 , H01L2924/30111 , H01L2924/3025 , H01L2924/00 , H01L2924/00012 , H01L2224/45015 , H01L2924/207
Abstract: 一种半导体器件,其中包括:半导体芯片;连接到半导体芯片的信号电极的信号引线;与信号引线电连接的外部信号电极;沿着信号引线延伸的接地引线;以及密封半导体芯片、信号引线、外部信号电极和接地引线的密封树脂。该外部信号电极被形成为从密封树脂的下表面凸起的凸起电极,以及信号引线的一个表面暴露在密封树脂的下表面上。
-
公开(公告)号:CN1423326A
公开(公告)日:2003-06-11
申请号:CN02123002.1
申请日:2002-06-13
Applicant: 富士通株式会社
CPC classification number: H01L23/3107 , H01L23/49541 , H01L23/66 , H01L24/48 , H01L24/49 , H01L2224/05554 , H01L2224/05599 , H01L2224/45099 , H01L2224/48091 , H01L2224/48247 , H01L2224/48253 , H01L2224/49113 , H01L2224/49171 , H01L2224/49433 , H01L2224/85399 , H01L2924/00014 , H01L2924/01057 , H01L2924/181 , H01L2924/3011 , H01L2924/30111 , H01L2924/3025 , H01L2924/00 , H01L2924/00012 , H01L2224/45015 , H01L2924/207
Abstract: 一种半导体器件,其中包括:半导体芯片;连接到半导体芯片的信号电极的信号引线;与信号引线电连接的外部信号电极;沿着信号引线延伸的接地引线;以及密封半导体芯片、信号引线、外部信号电极和接地引线的密封树脂。该外部信号电极被形成为从密封树脂的下表面凸起的凸起电极,以及信号引线的一个表面暴露在密封树脂的下表面上。
-
-
-