公开(公告)号：CN114302782B

公开(公告)日：2024-04-26

申请号：CN202080060505.0

申请日：2020-08-27

Applicant: 尼康SLM方案股份公司

Inventor： 卡斯顿·纽曼 ,  阿恩·尼夫 ,  巴斯蒂安·兰伯特 ,  丹尼尔·布吕克

IPC: B22F12/00 ,  B22F10/28 ,  B22F12/41 ,  B22F12/90 ,  B22F12/44 ,  B22F12/49 ,  B33Y10/00 ,  B33Y30/00 ,  B33Y40/00

Abstract: 本发明描述了对用于制造三维工件的设备的照射系统进行校准的装置，该照射系统包括用于将照射射束选择性地照射到照射平面上的照射单元，其中，该装置包括：控制单元，该控制单元被配置成对照射系统进行控制，以将照射射束照射到照射平面上；以及联接到控制单元的光学检测单元，其中，光学检测单元包括光学检测器和物镜，以对照射平面的一部分进行光学检测，其中，光学检测单元被配置成对照射射束在照射平面上的光斑的位置进行检测，其中，物镜适于相对于照射射束的照射射束路径被布置在光学检测器和照射系统的照射射束扫描器之间，其中，光学检测单元被配置成根据光学检测单元的可调节的焦距在多个焦平面中对照射射束的光斑的位置进行检测，其中，所述光学检测单元被配置成：响应于所述光学检测单元检测到所述照射射束在所述照射平面上的光斑的位置，向所述控制单元输出信号，并且其中，控制单元被配置成根据从光学检测单元输出到控制单元的信号对照射系统进行控制。

公开(公告)号：CN118305337A

公开(公告)日：2024-07-09

申请号：CN202410249555.3

申请日：2020-08-27

Applicant: 尼康SLM方案股份公司

Inventor： 卡斯顿·纽曼 ,  阿恩·尼夫 ,  巴斯蒂安·兰伯特 ,  丹尼尔·布吕克

IPC: B22F12/90 ,  B22F12/49 ,  B22F10/28 ,  B33Y30/00 ,  B33Y50/02

Abstract: 使用增材制造技术制造三维工件的设备，包括照射单元和光学检测单元；所述光学检测单元包括：光学检测器以及焦距调节器。所述光学检测单元能够根据所述光学检测单元的可调节的焦距在多个焦平面中对所述至少一个照射射束的光斑进行检测，其中，所述光学检测单元被配置成对于所述光学检测单元的同一观察方向、在多个焦平面中对所述照射射束在所述照射平面上的光斑进行检测，其中，所述光学检测单元被配置成确定所述照射平面的图像在所述多个焦平面中的每个焦平面中的聚焦区域，并且其中，所述设备被配置成根据所述多个焦平面中的每个焦平面的确定的聚焦区域来确定与所述照射平面的表面有关的三维信息。