公开(公告)号：CN102713562A

公开(公告)日：2012-10-03

申请号：CN201080061435.7

申请日：2010-11-11

Applicant: 布勒股份公司

Inventor： M·海涅 ,  S·曼兹

IPC: G01N15/14 ,  G01N1/08

CPC classification number: G01N1/08 ,  G01N15/147 ,  G01N15/1475 ,  G01N2015/0019 ,  G01N2015/0092 ,  G01N2015/1472

Abstract: 本发明涉及用于测量颗粒尺寸分布的方法，尤其是用于光学地测量松散物料如谷物、谷物碾磨制品、谷物制品及类似物的广泛的颗粒尺寸分布，它能够实现对于具有广泛的数量级的颗粒尺寸分布的测量。为了解决该任务规定，借助至少两个测量方法在一个装置中对分散的颗粒的样品进行光学检测，其中优选同时检测颗粒的轮廓，并且进行激光衍射。

公开(公告)号：CN104316450A

公开(公告)日：2015-01-28

申请号：CN201410539673.4

申请日：2010-11-11

Applicant: 布勒股份公司

Inventor： M·海涅 ,  S·曼兹

IPC: G01N15/14 ,  G01N1/08

CPC classification number: G01N1/08 ,  G01N15/147 ,  G01N15/1475 ,  G01N2015/0019 ,  G01N2015/0092 ,  G01N2015/1472

Abstract: 本发明涉及用于测量颗粒尺寸分布的方法，尤其是用于光学地测量松散物料如谷物、谷物碾磨制品、谷物制品及类似物的广泛的颗粒尺寸分布，它能够实现对于具有广泛的数量级的颗粒尺寸分布的测量。为了解决该任务规定，借助至少两个测量方法在一个装置中对分散的颗粒的样品进行光学检测，其中优选同时检测颗粒的轮廓，并且进行激光衍射。

公开(公告)号：CN102686998A

公开(公告)日：2012-09-19

申请号：CN200980163116.4

申请日：2009-12-22

Applicant: 布勒股份公司

Inventor： M·海尔弛 ,  U·杜本多尔弗 ,  M·海涅

IPC: G01N21/85 ,  G01N33/10

CPC classification number: G01N21/85 ,  A01D41/1277 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/359 ,  G01N33/10 ,  G01N2001/1006 ,  G01N2001/2021 ,  G01N2021/8592

Abstract: 本发明涉及用于低成本地在线近红外测量、尤其是在面粉磨或饲料磨等的物料流(3)中低成本地在线近红外测量尤其谷粒及其组成部分的成份、质量参数或总体物料性能的装置和方法。利用至少一个测量探针(1)，有利地对在流动管内的自由流动的物料(3)记录下反射光谱并且传输给在空间上与之分隔布置的具有集成式光谱计(12)的分析仪(2)。由分析仪(2)确定的测量值被传输给控制单元(24)或控制系统(22)并且能在那里被用于监视和/或调整工艺或设备。通过简单的物料表现和重复使用该分析仪，可以与迄今所用的近红外系统相比显著降低每个测量位置的成本。

公开(公告)号：CN104316450B

公开(公告)日：2016-08-24

申请号：CN201410539673.4

申请日：2010-11-11

Applicant: 布勒股份公司

Inventor： M·海涅 ,  S·曼兹

IPC: G01N15/14 ,  G01N1/08

CPC classification number: G01N1/08 ,  G01N15/147 ,  G01N15/1475 ,  G01N2015/0019 ,  G01N2015/0092 ,  G01N2015/1472

Abstract: 本发明涉及用于测量颗粒尺寸分布的方法，尤其是用于光学地测量松散物料如谷物、谷物碾磨制品、谷物制品及类似物的广泛的颗粒尺寸分布，它能够实现对于具有广泛的数量级的颗粒尺寸分布的测量。为了解决该任务规定，借助至少两个测量方法在一个装置中对分散的颗粒的样品进行光学检测，其中优选同时检测颗粒的轮廓，并且进行激光衍射。