受试体处理方法及受试体处理装置

    公开(公告)号:CN108117984B

    公开(公告)日:2022-10-28

    申请号:CN201711231782.X

    申请日:2017-11-30

    Abstract: 本发明涉及受试体处理方法及受试体处理装置。本发明旨在抑制在具备用于处理对象成分的流路的受试体处理芯片上有对象成分的粒子残留在流路内。本发明的受试体处理方法是用于使用作为受试体处理芯片100的形成了流路201的受试体处理芯片100而处理受试体中的对象成分20的受试体处理方法,其通过向流路201导入在与在对象成分20的处理中使用的处理液体21之间形成界面23的流体24,在与含具有对象成分20的粒子22的处理液体21之间形成与流路201的内壁面11接触的界面23,通过使形成的界面23在与内壁面11接触的状态下沿流路201移动,将滞留在处理液体21中的粒子22由导入的流体24压出。本发明的受试体处理装置是在上述受试体处理方法中使用的装置。

    荧光检测装置、被检物检测装置及荧光检测方法

    公开(公告)号:CN105388132B

    公开(公告)日:2019-04-02

    申请号:CN201510529714.6

    申请日:2015-08-26

    Inventor: 田川礼人

    Abstract: 本发明提供一种不使用昂贵的棱镜,使用低成本设备也能识别并检测出数个颜色的荧光的荧光检测装置。荧光检测装置11具有:光检测器23,识别并检测出数种颜色;过滤器部分22,设于光检测器23上,允许光检测器23具有灵敏度的波长域中含有的一定波长以上的波长域中含有的波长的光透过,切断小于所述一定波长的波长域中含有的波长的光;照射部件21,向放在过滤器部分22上的荧光物质照射峰值波长在所述小于一定波长的波长域的激发光;第一校正部件,通过校正光检测器23的输出信号,弥补在激发光照射下荧光物质发出的荧光中被过滤器部分22切断的光的信号。本发明还提供一种荧光检测方法。

    被检物质检测方法及装置、荧光检测方法及装置

    公开(公告)号:CN104568864B

    公开(公告)日:2019-03-29

    申请号:CN201410529175.1

    申请日:2014-10-10

    Abstract: 一种被检物质检测方法,检测在生物体试样中包含的被检物质,其特征在于,向包含荧光物质和被检物质的复合体,照射190nm以上350nm以下的第1峰值波长的光,该荧光物质如果被照射第1峰值波长的光则发出450nm以上900nm以下的第2峰值波长的光;通过光检测器(6),检测从被照射了第1峰值波长的光的荧光物质发出的第2峰值波长的光,光检测器(6)的第2峰值波长下的量子效率是第1峰值波长下的量子效率的2倍以上。

    荧光检测装置、被检物检测装置及荧光检测方法

    公开(公告)号:CN105388132A

    公开(公告)日:2016-03-09

    申请号:CN201510529714.6

    申请日:2015-08-26

    Inventor: 田川礼人

    Abstract: 本发明提供一种不使用昂贵的棱镜,使用低成本设备也能识别并检测出数个颜色的荧光的荧光检测装置。荧光检测装置11具有:光检测器23,识别并检测出数种颜色;过滤器部分22,设于光检测器23上,允许光检测器23具有灵敏度的波长域中含有的一定波长以上的波长域中含有的波长的光透过,切断小于所述一定波长的波长域中含有的波长的光;照射部件21,向放在过滤器部分22上的荧光物质照射峰值波长在所述小于一定波长的波长域的激发光;第一校正部件,通过校正光检测器23的输出信号,弥补在激发光照射下荧光物质发出的荧光中被过滤器部分22切断的光的信号。本发明还提供一种荧光检测方法。

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