用于样品结构显微成像的方法和设备

    公开(公告)号:CN102539395A

    公开(公告)日:2012-07-04

    申请号:CN201110317596.4

    申请日:2011-10-18

    Inventor: J·佛林

    Abstract: 用于光学显微成像样品结构(34)的方法和装置。用标记准备样品结构,这些标记可转变到可光学显微成像的状态,产生活性标记部分,其中标记的一部分被转变到可光学显微成像的状态,且在存在预定的活化状态时,包含在活性标记部分中的标记彼此具有大于由光学成像装置的分辨率极限预定的最小间距的平均间距,该样品结构被成像在传感器元件的布置(40)上,传感器元件分别产生图像信号,后者以其整体给出样品结构的单幅图像。此外检验预定活化状态的存在,其中相距一个时间间隔地产生至少两个单幅检验图像,及至少对传感器元件的一部分分别检测图像信号在两个单幅检验图像间的变化。在检测到的图像信号的变化整体上超过预定大小时确定预定活化状态存在。

    用于样品结构显微成像的方法和设备

    公开(公告)号:CN102539395B

    公开(公告)日:2016-05-04

    申请号:CN201110317596.4

    申请日:2011-10-18

    Inventor: J·佛林

    Abstract: 用于光学显微成像样品结构(34)的方法和装置。用标记准备样品结构,这些标记可转变到可光学显微成像的状态,产生活性标记部分,其中标记的一部分被转变到可光学显微成像的状态,且在存在预定的活化状态时,包含在活性标记部分中的标记彼此具有大于由光学成像装置的分辨率极限预定的最小间距的平均间距,该样品结构被成像在传感器元件的布置(40)上,传感器元件分别产生图像信号,后者以其整体给出样品结构的单幅图像。此外检验预定活化状态的存在,其中相距一个时间间隔地产生至少两个单幅检验图像,及至少对传感器元件的一部分分别检测图像信号在两个单幅检验图像间的变化。在检测到的图像信号的变化整体上超过预定大小时确定预定活化状态存在。

Patent Agency Ranking