用于探测测量区域中的物质的光学探测系统

    公开(公告)号:CN112469989B

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN201980050073.2

    申请日:2019-07-23

    Abstract: 本发明涉及一种具有两级均化设备(1)和接收器(42)的探测系统。朝着光子场的场方向(50)来看,均化设备(1)处于测量区域(44)与接收器(42)之间,并且包括第一扩散器(10)和第二扩散器(12)。第一扩散器(10)从输入光子场中产生中间光子场。第二扩散器(12)从中间光子场中产生输出光子场。根据入射的光子场,接收器(42)产生信号。

    用于探测测量区域中的物质的光学探测系统

    公开(公告)号:CN112469989A

    公开(公告)日:2021-03-09

    申请号:CN201980050073.2

    申请日:2019-07-23

    Abstract: 本发明涉及一种具有两级均化设备(1)和接收器(42)的探测系统。朝着光子场的场方向(50)来看,均化设备(1)处于测量区域(44)与接收器(42)之间,并且包括第一扩散器(10)和第二扩散器(12)。第一扩散器(10)从输入光子场中产生中间光子场。第二扩散器(12)从中间光子场中产生输出光子场。根据入射的光子场,接收器(42)产生信号。

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