鉴别内容信号的方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102461066B

    公开(公告)日:2015-09-09

    申请号:CN201080032461.7

    申请日:2010-05-21

    Inventor: R.K.夏尔马

    CPC classification number: G10L19/018 G06T1/0028

    Abstract: 以各种方式组合内容指纹和水印以便用于内容鉴别应用场合。使用指纹来一般地鉴别内容,同时水印提供内容内的各部分的更详细的定位,反之亦然。还使用指纹技术进行信号同步和其它预处理步骤以便帮助进行数字水印解码。各种指纹/水印技术从内容样本鉴别内容的通道特性。

    用于估计信号间的变换的信号处理器及方法

    公开(公告)号:CN103190078A

    公开(公告)日:2013-07-03

    申请号:CN201180052657.7

    申请日:2011-09-01

    Abstract: 信号处理装置和方法使用最小二乘法来估计信号之间的变换。一种直接最小二乘法将种子变换候选者应用于参考信号、并随后测量变换后的参考信号和待检信号之间的相关性。对每个候选者,在待检信号中鉴别出参考信号特征的更新坐标、并将其提供为对最小二乘法的输入以计算对变换候选者的更新。在该处理结束时,该方法基于对相关性的进一步分析来鉴别出一个变换或者由排名最前的变换构成的集合。相位估计方法使用点扩散函数来估计待检信号中的参考信号成分的相位。相位偏差方法通过分析相位偏差表面来确定参考信号和待检信号之间的平移,所述相位偏差表面通过计算相移估计值的偏差度量而生成。

    组合的水印法和指纹法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102461066A

    公开(公告)日:2012-05-16

    申请号:CN201080032461.7

    申请日:2010-05-21

    Inventor: R.K.夏尔马

    CPC classification number: G10L19/018 G06T1/0028

    Abstract: 以各种方式组合内容指纹和水印以便用于内容鉴别应用场合。使用指纹来一般地鉴别内容,同时水印提供内容内的各部分的更详细的定位,反之亦然。还使用指纹技术进行信号同步和其它预处理步骤以便帮助进行数字水印解码。各种指纹/水印技术从内容样本鉴别内容的通道特性。

    用于估计信号间的变换的信号处理器及方法

    公开(公告)号:CN107608447A

    公开(公告)日:2018-01-19

    申请号:CN201711070330.8

    申请日:2011-09-01

    Abstract: 本发明提供一种计算参考信号和待检信号之间的平移偏移的估计值的方法,该方法包括以下步骤:提供待检信号的相位估计值的集合;对于由平移偏移构成的阵列中的每个元素,提供所述参考信号在平移偏移下的预期相位的集合,计算在所述平移偏移下的预期相位的集合中的每个预期相位和对应的相位估计值的相位偏差度量,并计算在所述平移偏移下的所述相位偏差度量的总和;以及确定由平移偏移构成的阵列的相位偏差度量的峰值,其中所述峰值的位置提供所述平移偏移的估计值。

    用于估计信号间的变换的信号处理器及方法

    公开(公告)号:CN103190078B

    公开(公告)日:2017-12-08

    申请号:CN201180052657.7

    申请日:2011-09-01

    Abstract: 信号处理装置和方法使用最小二乘法来估计信号之间的变换。一种直接最小二乘法将种子变换候选者应用于参考信号、并随后测量变换后的参考信号和待检信号之间的相关性。对每个候选者,在待检信号中鉴别出参考信号特征的更新坐标、并将其提供为对最小二乘法的输入以计算对变换候选者的更新。在该处理结束时,该方法基于对相关性的进一步分析来鉴别出一个变换或者由排名最前的变换构成的集合。相位估计方法使用点扩散函数来估计待检信号中的参考信号成分的相位。相位偏差方法通过分析相位偏差表面来确定参考信号和待检信号之间的平移,所述相位偏差表面通过计算相移估计值的偏差度量而生成。

    用于估计信号间的变换的信号处理器及方法

    公开(公告)号:CN107608447B

    公开(公告)日:2020-10-23

    申请号:CN201711070330.8

    申请日:2011-09-01

    Abstract: 本发明提供一种计算参考信号和待检信号之间的平移偏移的估计值的方法,该方法包括以下步骤:提供待检信号的相位估计值的集合;对于由平移偏移构成的阵列中的每个元素,提供所述参考信号在平移偏移下的预期相位的集合,计算在所述平移偏移下的预期相位的集合中的每个预期相位和对应的相位估计值的相位偏差度量,并计算在所述平移偏移下的所述相位偏差度量的总和;以及确定由平移偏移构成的阵列的相位偏差度量的峰值,其中所述峰值的位置提供所述平移偏移的估计值。

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