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公开(公告)号:CN1460177A
公开(公告)日:2003-12-03
申请号:CN02800977.0
申请日:2002-02-12
Applicant: 日本碍子株式会社
CPC classification number: B01D46/442 , B01D46/0086 , B01D65/102 , B01D65/104 , B01D2273/18 , G01M3/20 , G01M3/38 , G01N15/0826 , G01N21/88 , G01N21/95 , G01N21/95692
Abstract: 一种检测缺陷的检查方法。在产生微粒子之后,将产生的上述微粒子导入上述被检测体内,其次,产生指向性很强的光使其通过上述被检测体的附近,上述光照射从被检测体排出的上述微粒子,使缺陷可视化。一种检测缺陷的检查装置包括:产生微粒子的微粒子发生装置;将上述微粒子导入被检测体内的微粒子导入装置;产生指向性很强的光,通过被检测体的附近,照射通过被检测体排出的微粒子,使上述微粒子可视化的光发生装置。若按照该检查方法和装置,能高灵敏度地检测出被检测体的缺陷,容易指出和记录缺陷的地点,检查时间短,检查前后的前处理及后处理的时间也短,甚至可以不要。
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公开(公告)号:CN101041248B
公开(公告)日:2010-10-13
申请号:CN200710086094.9
申请日:2007-03-09
Applicant: 日本碍子株式会社
IPC: B28B1/00
CPC classification number: B28B11/006 , B28B11/007
Abstract: 公开了一种用于制造封堵的蜂窝结构的方法,该方法能够制造相同封堵深度的封堵的蜂窝结构。根据本发明,用于制造封堵的蜂窝结构的方法包括设置填塞导板(6),以便它覆盖蜂窝结构(3)的一端(7a)的外围的、要被封堵的隔间(4a)是开放的侧面,且它的端部从一端(7a)的端面突出,一端(7a)的侧面的端面与周围空间分隔开,且设置有填塞导板(6)的蜂窝结构(3)的一端(7a)被压到陶瓷料浆上,因此将陶瓷料浆引入到要被封堵的隔间(4a)中,形成封堵部分。
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公开(公告)号:CN101015933A
公开(公告)日:2007-08-15
申请号:CN200710006503.X
申请日:2007-02-01
Applicant: 日本碍子株式会社
CPC classification number: C04B38/0006 , B01D46/0001 , B01D46/2418 , B01D2279/30 , B28B11/006 , C04B35/10 , C04B35/185 , C04B35/19 , C04B35/195 , C04B35/443 , C04B35/478 , C04B35/565 , C04B35/584 , C04B38/0012 , C04B41/009 , C04B41/5024 , C04B41/85 , C04B2111/00129 , C04B2111/00793 , C04B2111/0081 , F01N3/0222 , Y02T10/20 , C04B38/0054 , C04B38/0074 , C04B38/0645 , C04B37/005 , C04B41/53
Abstract: 本发明提供可容易地制造将隔室开口端封孔的封孔部件的深度均匀的封孔蜂窝结构体的方法。根据本发明提供的封孔蜂窝结构体的制造方法,具有以下工序:在得到没有封孔的蜂窝结构体(12)后,向带(41)上面供给作为封孔材料的陶瓷浆液(13),使用一边(45)为直线的刀片(44),通过以该刀片(44)的一边(45)与带(41)上面平行的方式,使带(41)移动并通过刀片(44),而使向带(41)上面供给的陶瓷浆液(13)水平化,向该水平化的陶瓷浆液(13)压入没有封孔的未烧结蜂窝结构体(12)的一侧端面(17a),从隔室(15a)的一侧开口向隔室(15a)中填充陶瓷浆液(13)的工序。
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公开(公告)号:CN100468031C
公开(公告)日:2009-03-11
申请号:CN02800977.0
申请日:2002-02-12
Applicant: 日本碍子株式会社
CPC classification number: B01D46/442 , B01D46/0086 , B01D65/102 , B01D65/104 , B01D2273/18 , G01M3/20 , G01M3/38 , G01N15/0826 , G01N21/88 , G01N21/95 , G01N21/95692
Abstract: 一种检测缺陷的检查方法。在产生微粒子之后,将产生的上述微粒子导入上述被检测体内,其次,产生指向性很强的光使其通过上述被检测体的附近,上述光照射从被检测体排出的上述微粒子,使缺陷可视化。一种检测缺陷的检查装置包括:产生微粒子的微粒子发生装置;将上述微粒子导入被检测体内的微粒子导入装置;产生指向性很强的光,通过被检测体的附近,照射通过被检测体排出的微粒子,使上述微粒子可视化的光发生装置。若按照该检查方法和装置,能高灵敏度地检测出被检测体的缺陷,容易指出和记录缺陷的地点,检查时间短,检查前后的前处理及后处理的时间也短,甚至可以不要。
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公开(公告)号:CN101041248A
公开(公告)日:2007-09-26
申请号:CN200710086094.9
申请日:2007-03-09
Applicant: 日本碍子株式会社
IPC: B28B1/00
CPC classification number: B28B11/006 , B28B11/007
Abstract: 公开了一种用于制造封堵的蜂窝结构的方法,该方法能够制造相同封堵深度的封堵的蜂窝结构。根据本发明,用于制造封堵的蜂窝结构的方法包括设置填塞导板(6),以便它覆盖蜂窝结构(3)的一端(7a)的外围的、封堵隔间(4a)是开放的侧面,且它的端部从一端(7a)的端面突出,一端(7a)的侧面的端面与周围空间分隔开,且设置有填塞导板(6)的蜂窝结构(3)的一端(7a)被压到陶瓷料浆上,因此将陶瓷料浆引入到封堵隔间(4a)中,形成封堵部分。
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