一种内孔测量装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117450943A

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN202311448971.8

    申请日:2023-11-02

    Applicant: 林宏韬

    Inventor: 林宏韬 郎娟

    Abstract: 本发明为一种内孔测量装置,包括计算控制单元、壳体和同轴设置在壳体内与壳体同轴的光学成像组件和结构光发生器组件,其中,光学成像组件包括主反射锥、摄像头和摄像头内的图像传感器;结构光发生器组件包括结构光反射锥、准直光发生器;结构光反射锥用于反射准直光发生器发出的准直光束,在工件内孔表面待测量处形成结构光光环,主反射锥用于反射结构光光环散射到主反射锥的光线,摄像头和图像传感器用于接收主反射锥反射的结构光得到图像信号;计算控制单元与摄像头和准直光发生器连接,用于根据图像信号计算工件内孔直径和轮廓偏差相关几何量。

    一种内孔测量装置
    2.
    实用新型

    公开(公告)号:CN221404204U

    公开(公告)日:2024-07-23

    申请号:CN202322962017.2

    申请日:2023-11-02

    Applicant: 林宏韬

    Inventor: 林宏韬 郎娟

    Abstract: 本实用新型为一种内孔测量装置,包括计算控制单元、壳体和同轴设置在壳体内的光学成像组件和结构光发生器组件,光学成像组件包括主反射锥、摄像头和图像传感器;结构光发生器组件包括结构光反射锥、准直光发生器、能量发射器和能量接收器;能量发射器和能量接收器都设置于壳体内,能量接收器与准直光发生器电性连接,能量发射器和能量接收器无线连接,能量发射器发射的能量用于提供准直光发生器工作的能量和准直光发生器控制信号;计算控制单元与摄像头和能量发射器电性连接,用于根据图像传感器生成的图像信号计算工件内孔直径和轮廓偏差相关几何量。

    一种内孔测量装置
    3.
    实用新型

    公开(公告)号:CN221404203U

    公开(公告)日:2024-07-23

    申请号:CN202322962010.0

    申请日:2023-11-02

    Applicant: 林宏韬

    Inventor: 林宏韬 郎娟

    Abstract: 本实用新型为一种内孔测量装置,包括计算控制单元、壳体和同轴设置在壳体内与壳体同轴的光学成像组件和结构光发生器组件,其中,光学成像组件包括主反射锥、摄像头和摄像头内的图像传感器;结构光发生器组件包括结构光反射锥、准直光发生器;结构光反射锥用于反射准直光发生器发出的准直光束,在工件内孔表面待测量处形成结构光光环,主反射锥用于反射结构光光环散射到主反射锥的光线,摄像头和图像传感器用于接收主反射锥反射的结构光得到图像信号;计算控制单元与摄像头和准直光发生器连接,用于根据图像信号计算工件内孔直径和轮廓偏差相关几何量。

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