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公开(公告)号:CN102193347B
公开(公告)日:2014-05-14
申请号:CN201110052896.4
申请日:2011-03-03
Applicant: 柯尼卡美能达商用科技株式会社
Abstract: 本发明提供一种电子照相用感光体和图像形成方法,其在使用刀头切削加工感光体基体时,可降低半色调图像中产生的干涉条纹,可得到对应轻印刷领域等的高画像质量。一种电子照相感光体,其特征在于,在圆筒状基体上至少具有感光层,该基体具有在其外周面沿中心轴有规则地形成的加工形状,该形状满足式1,式1:ΔL≥10μm,式中,ΔL为图像区域内的圆筒状基体的中心轴方向上的加工周期幅度的差。
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公开(公告)号:CN101930185A
公开(公告)日:2010-12-29
申请号:CN201010208873.3
申请日:2010-06-18
Applicant: 柯尼卡美能达商用科技株式会社
Inventor: 佐佐木辉夫
Abstract: 本发明涉及电子照相感光体、图像形成装置和处理盒。本发明的目的在于提供一种高性能的电子照相感光体,其解决了使用现有聚芳酯的电子照相感光体的课题,即,在改善耐磨耗特性的同时改善了在涂布液溶剂中的溶解性、电学特性(剩余电位、明部电位等),具有高耐久性,即使对于反复使用也可持续得到良好的图像。此外,本发明的目的在于提供通过使用上述电子照相感光体而实现了小型且能高速印刷的高可靠性的图像形成装置和图像形成装置用处理盒。所述电子照相感光体在导电性支撑体上具有感光层,其特征在于,该感光层含有具有特定结构单元的粘结剂树脂。
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公开(公告)号:CN101807015A
公开(公告)日:2010-08-18
申请号:CN201010111892.4
申请日:2010-02-05
Applicant: 柯尼卡美能达商用科技株式会社
Abstract: 本发明涉及有机感光体、图像形成方法和图像形成装置。提供使生产有机感光体时的负荷减少、防止波纹所致的画质降低、能够获得不会随着切削加工面的凸部漏电而产生黑点等图像缺陷的高画质的电子照相图像的有机感光体,图像形成方法以及图像形成装置。所述有机感光体在导电性支撑体上至少设有中间层、感光层,其特征在于,所述中间层的干燥膜厚为0.5μm~10.0μm,所述导电性支撑体的粗糙度曲线的突出山部高度Rpk(μm)、突出谷部高度Rvk(μm)、核部的水平差Rk(μm)具有下述式(1)的关系。Rpk+Rvk≤Rk 式(1)
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公开(公告)号:CN101930185B
公开(公告)日:2014-05-14
申请号:CN201010208873.3
申请日:2010-06-18
Applicant: 柯尼卡美能达商用科技株式会社
Inventor: 佐佐木辉夫
Abstract: 本发明涉及电子照相感光体、图像形成装置和处理盒。本发明的目的在于提供一种高性能的电子照相感光体,其解决了使用现有聚芳酯的电子照相感光体的课题,即,在改善耐磨耗特性的同时改善了在涂布液溶剂中的溶解性、电学特性(剩余电位、明部电位等),具有高耐久性,即使对于反复使用也可持续得到良好的图像。此外,本发明的目的在于提供通过使用上述电子照相感光体而实现了小型且能高速印刷的高可靠性的图像形成装置和图像形成装置用处理盒。所述电子照相感光体在导电性支撑体上具有感光层,其特征在于,该感光层含有具有特定结构单元的粘结剂树脂。
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公开(公告)号:CN101807015B
公开(公告)日:2012-05-30
申请号:CN201010111892.4
申请日:2010-02-05
Applicant: 柯尼卡美能达商用科技株式会社
Abstract: 本发明涉及有机感光体、图像形成方法和图像形成装置。提供使生产有机感光体时的负荷减少、防止波纹所致的画质降低、能够获得不会随着切削加工面的凸部漏电而产生黑点等图像缺陷的高画质的电子照相图像的有机感光体,图像形成方法以及图像形成装置。所述有机感光体在导电性支撑体上至少设有中间层、感光层,其特征在于,所述中间层的干燥膜厚为0.5μm~10.0μm,所述导电性支撑体的粗糙度曲线的突出山部高度Rpk(μm)、突出谷部高度Rvk(μm)、核部的水平差Rk(μm)具有下述式(1)的关系。Rpk+Rvk≤Rk 式(1)
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公开(公告)号:CN102193347A
公开(公告)日:2011-09-21
申请号:CN201110052896.4
申请日:2011-03-03
Applicant: 柯尼卡美能达商用科技株式会社
Abstract: 本发明提供一种电子照相用感光体和图像形成方法,其在使用刀头切削加工感光体基体时,可降低半色调图像中产生的干涉条纹,可得到对应轻印刷领域等的高画像质量。一种电子照相感光体,其特征在于,在圆筒状基体上至少具有感光层,该基体具有在其外周面沿中心轴有规则地形成的加工形状,该形状满足式1,式1:ΔL≥10μm,式中,ΔL为图像区域内的圆筒状基体的中心轴方向上的加工周期幅度的差。
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