放射线图像摄影装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117838175A

    公开(公告)日:2024-04-09

    申请号:CN202311272891.1

    申请日:2023-09-28

    Abstract: 本发明提供一种放射线图像摄影装置,能够抑制基材(4)的带电影响。放射线图像摄影装置(100)具备:基材(4),该基材(4)由发泡件形成,由带电材料构成;放射线检测部(3),该放射线检测部(3)设置在基材(4)的第一面(支承面(41a))侧,检测放射线;框体(110),该框体(110)收纳基材(4)和放射线检测部(3);以及抗静电部件(9),该抗静电部件(9)设置在基材(4)的与第一面相反侧的第二面(相反面(41b))与框体(110)的背面部(21)之间。

    射线检测器
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN115524732B

    公开(公告)日:2025-04-15

    申请号:CN202210696404.3

    申请日:2022-06-20

    Abstract: 本发明所要解决的技术问题在于通过保持射线检测器的轻量性,并且有效地抑制振动,从而防止图像品质的劣化,提高X射线照射的检测精度。射线检测器(100)具备:射线检测部(2),其具有有挠性的基板(21)和在基板的拍摄面(22)形成的半导体元件(23);支承部件(4),其对射线检测部进行支承;框体(前面部(1)、背面部(8)),其对射线检测部进行收纳;缓冲部件(C11-C13、C21-C23、C31-C33)。缓冲部件设置在支承部件与射线检测部之间、或者支承部件与背面部(8)之间的至少一方。

    射线检测器
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115524732A

    公开(公告)日:2022-12-27

    申请号:CN202210696404.3

    申请日:2022-06-20

    Abstract: 本发明所要解决的技术问题在于通过保持射线检测器的轻量性,并且有效地抑制振动,从而防止图像品质的劣化,提高X射线照射的检测精度。射线检测器(100)具备:射线检测部(2),其具有有挠性的基板(21)和在基板的拍摄面(22)形成的半导体元件(23);支承部件(4),其对射线检测部进行支承;框体(前面部(1)、背面部(8)),其对射线检测部进行收纳;缓冲部件(C11-C13、C21-C23、C31-C33)。缓冲部件设置在支承部件与射线检测部之间、或者支承部件与背面部(8)之间的至少一方。

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