公开(公告)号：CN1324301C

公开(公告)日：2007-07-04

申请号：CN200510004286.1

申请日：2005-01-18

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 门胁聪一 ,  竹村文宏 ,  堀内直治

IPC: G01B21/04 ,  G01B21/30

CPC classification number: G01B21/042 ,  G01B5/008

Abstract: 本发明是一种被测物体坐标系的决定方法，其特征在于，配备：将被测物体的特征部位的二个场所以上分别作为第一测量场所，使用坐标测量机的检测器得到位置坐标信息，另外，将与该测量场所不在同一直线上的特征部位的一个以上场所作为第二测量场所，使用该坐标测量机的检测器，得到位置坐标信息的预备测量工序；基于该测量结果对每个该测量场所求出特征点的位置的特征点检测工序；基于该第一测量场所的各特征点的位置，求出第一基准线，另外，求出与该第一基准线正交、通过该第二测量场所的特征点的第二基准线的基准线决定工序；基于该第一基准线与该第二基准线的交点的位置，决定被测物体坐标系的原点的位置的原点设定工序；以及基于该基准线的方向，进行该坐标系的轴的方向决定的轴设定工序。

公开(公告)号：CN1645044A

公开(公告)日：2005-07-27

申请号：CN200510004286.1

申请日：2005-01-18

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 门胁聪一 ,  竹村文宏 ,  堀内直治

IPC: G01B21/04 ,  G01B21/30

CPC classification number: G01B21/042 ,  G01B5/008

Abstract: 本发明是一种被测物体坐标系的决定方法，其特征在于，配备：将被测物体的特征部位的二个场所以上分别作为第一测量场所，使用坐标测量机的检测器得到位置坐标信息，另外，将与该测量场所不在同一直线上的特征部位的一个场所以上作为第二测量场所，使用该坐标测量机的检测器，得到位置坐标信息的预备测量工序；基于该测量结果对每个该测量场所求出特征点的位置的特征点检测工序；基于该第一测量场所的各特征点的位置，求出第一基准线，另外，求出与该第一基准线正交、通过该第二测量场所的特征点的第二基准线的基准线决定工序；基于该第一基准线与该第二基准线的交点的位置，决定被测物体坐标系的原点的位置的原点设定工序；以及基于该基准线的方向，进行该坐标系的轴的方向决定的轴设定工序。