透镜基板堆叠位置计算设备和程序

    公开(公告)号:CN111610581A

    公开(公告)日:2020-09-01

    申请号:CN202010106593.5

    申请日:2020-02-21

    Abstract: 本发明提供一种透镜基板堆叠位置计算设备,即使形成在晶片基板上的每个透镜的位置在要堆叠的晶片透镜阵列之间有偏差,当多个晶片透镜阵列连结在一起时,设备也能计算光轴偏差落入允许范围内的透镜组的数量最大化时的堆叠位置。当二维排列有多个透镜的两个或更多透明基板被堆叠以形成每个包括两个或更多透镜的多个透镜组时,透镜基板堆叠位置计算设备计算要堆叠的两个或更多透明基板的位置关系。每个透镜的位置提前在共同坐标系中指定。透镜基板堆叠位置计算设备包括位置关系计算单元,用于通过预定计算方法计算两个或更多透明基板之间的相对位置关系,该相对位置关系使得构成透镜组的透镜之间的位置偏差的大小落入预定范围内的透镜组数量最大化。

    硬度测试仪和硬度测试方法

    公开(公告)号:CN104075954B

    公开(公告)日:2018-10-30

    申请号:CN201410124268.6

    申请日:2014-03-28

    Inventor: 宫仓常太

    Abstract: 本发明涉及一种硬度测试仪和硬度测试方法。该硬度测试仪具有:压痕形成器,用于通过使压头压抵试样的表面来形成压痕;摄像控制器,用于控制CCD照相机以对试样的表面摄像并且获得图像数据;压痕区域提取器,用于基于所获得的图像数据来提取压痕区域;以及硬度计算器,用于基于所提取出的压痕区域来计算试样的硬度。该压痕区域提取器具有:缩小图像生成器,用于按从多个预定缩尺比中所选择的缩尺比来缩小根据试样的表面的图像数据所获得的图像,并且生成缩小图像;以及模式匹配器,用于对所生成的缩小图像进行模式匹配,并且提取压痕区域。

    X射线测量装置的校正方法

    公开(公告)号:CN112556611B

    公开(公告)日:2024-10-08

    申请号:CN202010946721.7

    申请日:2020-09-10

    Abstract: 本发明提供一种X射线测量装置的校正方法,包括:载置工序,将校正治具载置于旋转台;移动位置获取工序,使第j个球的位置相对于第1个球的位置平行移动,向校正治具照射X射线,并从X射线图像检测器的输出中获取第j个球的投影像的重心位置相对于第1个球的投影像的重心位置的差位置的大小为规定值以下的移动位置;相对位置计算工序,对其余的球进行移动位置获取工序,根据各个移动位置来计算特定的相对位置间隔;特征位置计算工序;变换矩阵计算工序;旋转检测工序;位置计算工序;以及中心位置计算工序。由此,即使校正治具由于经年变化等而变形,例如也能够通过简单的工序容易地计算将被测定物以能够旋转的方式载置的旋转台的旋转中心位置。

    形状复原方法和图像测量装置

    公开(公告)号:CN114746716B

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202080082861.2

    申请日:2020-11-26

    Abstract: 照明装置110具有:光源部112;透镜部116,其将照明光以特定的照射立体角IS向被测定物W照射;滤光部114,其将特定的照射立体角IS内分离为具有彼此不同的光的波长区域R、G,B的多个立体角区域IS1、IS2、IS3;拍摄装置CM以规定的观察立体角DS接收照明光产生的被测定物W的物体光,拍摄装置CM的各像素能够彼此识别不同的光的波长区域R、G、B,处理装置120具备:计算部124,其从构成物体光的多个立体角区域RS1、RS2、RS3与规定的观察立体角DS之间的包含关系求出与各像素对应的被测定物W各点的法线向量Vn;形状复原部128,其对被测定物W的形状进行复原。由此,能够迅速地复原对被测定物进行了拍摄的图像内的被测定物各点的信息。

    盘形刻度盘的检查方法、检查设备和记录介质

    公开(公告)号:CN118247208A

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202311777282.1

    申请日:2023-12-22

    Abstract: 本发明公开了一种盘形刻度盘的检查方法、检查设备和记录介质。提供了一种准确且高效地对盘形刻度盘进行检查的检查方法。检查方法包括:图像数据获取步骤,用于获取与盘形刻度盘的图像有关的数据作为盘形刻度盘图像数据;以及极坐标变换步骤,用于使用盘形刻度盘的中心作为基准将盘形刻度盘图像数据变换成极坐标,以生成极坐标刻度图像数据。缺陷检测步骤包括:处理区域设置步骤,用于在极坐标角度显示轴上设置处理区域;重心计算步骤,用于针对各个处理区域计算重心;以及重心间距计算步骤,用于计算在重心计算步骤中所计算出的重心的间距。

    X射线测量装置的校正方法

    公开(公告)号:CN112556611A

    公开(公告)日:2021-03-26

    申请号:CN202010946721.7

    申请日:2020-09-10

    Abstract: 本发明提供一种X射线测量装置的校正方法,包括:载置工序,将校正治具载置于旋转台;移动位置获取工序,使第j个球的位置相对于第1个球的位置平行移动,向校正治具照射X射线,并从X射线图像检测器的输出中获取第j个球的投影像的重心位置相对于第1个球的投影像的重心位置的差位置的大小为规定值以下的移动位置;相对位置计算工序,对其余的球进行移动位置获取工序,根据各个移动位置来计算特定的相对位置间隔;特征位置计算工序;变换矩阵计算工序;旋转检测工序;位置计算工序;以及中心位置计算工序。由此,即使校正治具由于经年变化等而变形,例如也能够通过简单的工序容易地计算将被测定物以能够旋转的方式载置的旋转台的旋转中心位置。

    硬度测试仪和硬度测试方法

    公开(公告)号:CN104075954A

    公开(公告)日:2014-10-01

    申请号:CN201410124268.6

    申请日:2014-03-28

    Inventor: 宫仓常太

    Abstract: 本发明涉及一种硬度测试仪和硬度测试方法。该硬度测试仪具有:压痕形成器,用于通过使压头压抵试样的表面来形成压痕;摄像控制器,用于控制CCD照相机以对试样的表面摄像并且获得图像数据;压痕区域提取器,用于基于所获得的图像数据来提取压痕区域;以及硬度计算器,用于基于所提取出的压痕区域来计算试样的硬度。该压痕区域提取器具有:缩小图像生成器,用于按从多个预定缩尺比中所选择的缩尺比来缩小根据试样的表面的图像数据所获得的图像,并且生成缩小图像;以及模式匹配器,用于对所生成的缩小图像进行模式匹配,并且提取压痕区域。

    X射线测量装置的校正方法

    公开(公告)号:CN112461165B

    公开(公告)日:2024-10-08

    申请号:CN202010940511.7

    申请日:2020-09-09

    Abstract: 本发明提供一种X射线测量装置的校正方法,包括:前段特征位置计算工序,将配置于N个部位的球的平行移动进行多次,确定处于N个部位的球各自的投影像的重心位置;单独矩阵计算工序,针对球分别计算单独投影矩阵;单独位置计算工序,基于单独投影矩阵来计算球各自的移动位置;坐标统一工序,计算球的特定的相对位置间隔;后段特征位置计算工序;变换矩阵计算工序,计算投影变换矩阵;旋转检测工序;位置计算工序;以及中心位置计算工序。由此,即使校正治具由于经年变化等而发生变形,也能够通过简单的工序容易地计算例如将被测定物以能够旋转的方式载置的旋转台的旋转中心位置。

    盘形刻度盘的检查方法、检查设备和记录介质

    公开(公告)号:CN118247207A

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202311777281.7

    申请日:2023-12-22

    Abstract: 本发明公开了一种盘形刻度盘的检查方法、检查设备和记录介质。该检查方法包括:图像数据获取步骤,用于获取与盘形刻度盘的图像有关的数据作为盘形刻度盘图像数据;以及极坐标变换步骤,用于使用盘形刻度盘的中心作为基准将盘形刻度盘图像数据变换成极坐标,以生成极坐标刻度图像数据。缺陷检测步骤包括:处理区域设置步骤,用于在极坐标角度显示轴上针对各个刻度线设置处理区域;重心计算步骤,用于针对各个处理区域计算重心;以及重心间距计算步骤,用于计算在重心计算步骤中所计算出的重心的间距。通过将极坐标刻度图像数据中的刻度的间距与预定参考值进行比较来执行缺陷检测。

    X射线测量装置的校准方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113932741A

    公开(公告)日:2022-01-14

    申请号:CN202110724806.5

    申请日:2021-06-29

    Abstract: 本发明提供一种X射线测量装置的校准方法,包括以下工序:载置工序,将校准治具载置于旋转台;特征位置计算工序,向校准治具照射X射线,根据X射线图像检测器的输出来确定重心位置;变换矩阵计算工序,根据重心位置和已知的相对位置间隔,来计算投影变换矩阵;旋转检测工序,使旋转台以规定角度旋转2次以上,重复进行特征位置计算工序和变换矩阵计算工序;以及中心位置计算工序,基于投影变换矩阵来计算旋转台的旋转中心位置。由此,能够通过简单的工序容易地计算将被测定物以能够旋转的方式载置的旋转台的旋转中心位置。

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