公开(公告)号：CN114199159B

公开(公告)日：2025-01-07

申请号：CN202111346225.9

申请日：2018-06-20

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 宫田薰

IPC: G01B11/25

Abstract: 一种3D几何形状测量装置包括：投影部分，将包括沿多个方向延伸的条纹图案的投影图像投影到待测量的对象上；捕获部分，分别生成包括由投影部分投影到待测量的对象上的条纹图案的捕获图像；特征量识别部分，识别指示包括在捕获图像中的条纹图案的特征量；缺陷像素检测部分，基于从沿相应方向延伸的条纹图案的捕获图像中的每一个识别的特征量，来检测捕获图像中的缺陷像素；和几何形状识别部分，识别除了缺陷像素以外的捕获图像的像素与投影图像的像素之间的对应关系以基于对应关系来识别待测量的对象的3D几何形状。

公开(公告)号：CN111829456B

公开(公告)日：2024-12-27

申请号：CN202010304396.4

申请日：2020-04-17

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 宫田薰

IPC: G01B11/25

Abstract: 抑制多重反射光等所导致的测定精度的降低。具备：关系确定部(45)，其确定第一拍摄像素和对应于与第一拍摄像素所对应的投影坐标相同的投影坐标且位于第一拍摄像素所对应的第二拍摄图像的第一核线上的第二拍摄像素的组合；判定部(46)，其基于具有第一拍摄像素所对应的投影坐标的投影图像的投影像素和具有第二拍摄像素所对应的投影坐标的投影图像的投影像素之间的距离，判定所述第一拍摄像素或者所述第二拍摄像素的至少任一个是否是不良像素；以及形状测定部(47)，其使用判定为所述第一拍摄像素以及所述第二拍摄像素不为所述不良像素的所述组合所对应的第一拍摄像素或者第二拍摄像素，测定出测定对象物的形状。

公开(公告)号：CN111829456A

公开(公告)日：2020-10-27

申请号：CN202010304396.4

申请日：2020-04-17

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 宫田薰

IPC: G01B11/25

Abstract: 抑制多重反射光等所导致的测定精度的降低。具备：关系确定部(45)，其确定第一拍摄像素和对应于与第一拍摄像素所对应的投影坐标相同的投影坐标且位于第一拍摄像素所对应的第二拍摄图像的第一核线上的第二拍摄像素的组合；判定部(46)，其基于具有第一拍摄像素所对应的投影坐标的投影图像的投影像素和具有第二拍摄像素所对应的投影坐标的投影图像的投影像素之间的距离，判定所述第一拍摄像素或者所述第二拍摄像素的至少任一个是否是不良像素；以及形状测定部(47)，其使用判定为所述第一拍摄像素以及所述第二拍摄像素不为所述不良像素的所述组合所对应的第一拍摄像素或者第二拍摄像素，测定出测定对象物的形状。

公开(公告)号：CN109099860B

公开(公告)日：2021-12-07

申请号：CN201810637645.4

申请日：2018-06-20

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 宫田薰

IPC: G01B11/25

Abstract: 一种三维(3D)几何形状测量装置包括：投影部分1；捕获部分2，生成投影图像投影到的所述待测量的对象的捕获图像；分析部分305，获得作为投影图像的像素位置的投影像素位置与作为捕获图像的像素位置的捕获像素位置之间的对应关系；线识别部分501，识别对应于所述捕获像素位置的捕获部分2的第一核线或对应于所述投影像素位置的投影部分1的第二核线；缺陷像素检测部分502，基于所述捕获像素位置与第一核线之间的位置关系或所述投影像素位置与第二核线之间的位置关系来检测缺陷像素；和几何形状识别部分306。

公开(公告)号：CN107091617B

公开(公告)日：2021-04-23

申请号：CN201710086151.7

申请日：2017-02-17

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 宫田薰

IPC: G01B11/25

Abstract: 本发明提供一种形状测定系统、形状测定装置以及形状测定方法。抑制对测定对象物的形状进行测定时的多重反射的影响。形状测定装置(3)具有：图像获取部(321)，其获取多个摄像图像，该多个摄像图像是通过拍摄依次被投射各不相同的多个投影图案的测定对象物而生成的；量化部(322)，其通过将多个摄像图像的各像素的亮度值与规定的基准值进行比较，来生成亮度值的量化值；选择部(323)，其根据多个摄像图像中的同一坐标的多个像素的亮度值与基准值的关系，从与多个摄像图像对应的多个量化值中选择在测定对象物的形状的确定中使用的量化值；以及形状确定部(324)，其根据选择部所选择出的量化值，来确定测定对象物的形状。

公开(公告)号：CN109099860A

公开(公告)日：2018-12-28

申请号：CN201810637645.4

申请日：2018-06-20

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 宫田薰

IPC: G01B11/25

Abstract: 一种三维(3D)几何形状测量装置包括：投影部分1；捕获部分2，生成投影图像投影到的所述待测量的对象的捕获图像；分析部分305，获得作为投影图像的像素位置的投影像素位置与作为捕获图像的像素位置的捕获像素位置之间的对应关系；线识别部分501，识别对应于所述捕获像素位置的捕获部分2的第一核线或对应于所述投影像素位置的投影部分1的第二核线；缺陷像素检测部分502，基于所述捕获像素位置与第一核线之间的位置关系或所述投影像素位置与第二核线之间的位置关系来检测缺陷像素；和几何形状识别部分306。

公开(公告)号：CN107091617A

公开(公告)日：2017-08-25

申请号：CN201710086151.7

申请日：2017-02-17

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 宫田薰

IPC: G01B11/25

CPC classification number: G01B11/002 ,  G06K9/2036 ,  G06K9/4604 ,  G06K9/4661 ,  G06K9/52 ,  G06K9/6215 ,  G06T7/521 ,  G06T7/73 ,  G01B11/2545

Abstract: 本发明提供一种形状测定系统、形状测定装置以及形状测定方法。抑制对测定对象物的形状进行测定时的多重反射的影响。形状测定装置(3)具有：图像获取部(321)，其获取多个摄像图像，该多个摄像图像是通过拍摄依次被投射各不相同的多个投影图案的测定对象物而生成的；量化部(322)，其通过将多个摄像图像的各像素的亮度值与规定的基准值进行比较，来生成亮度值的量化值；选择部(323)，其根据多个摄像图像中的同一坐标的多个像素的亮度值与基准值的关系，从与多个摄像图像对应的多个量化值中选择在测定对象物的形状的确定中使用的量化值；以及形状确定部(324)，其根据选择部所选择出的量化值，来确定测定对象物的形状。

公开(公告)号：CN114199159A

公开(公告)日：2022-03-18

申请号：CN202111346225.9

申请日：2018-06-20

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 宫田薰

IPC: G01B11/25

Abstract: 一种3D几何形状测量装置包括：投影部分，将包括沿多个方向延伸的条纹图案的投影图像投影到待测量的对象上；捕获部分，分别生成包括由投影部分投影到待测量的对象上的条纹图案的捕获图像；特征量识别部分，识别指示包括在捕获图像中的条纹图案的特征量；缺陷像素检测部分，基于从沿相应方向延伸的条纹图案的捕获图像中的每一个识别的特征量，来检测捕获图像中的缺陷像素；和几何形状识别部分，识别除了缺陷像素以外的捕获图像的像素与投影图像的像素之间的对应关系以基于对应关系来识别待测量的对象的3D几何形状。