非接触式探头和测量机
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102062585A

    公开(公告)日:2011-05-18

    申请号:CN201010547849.2

    申请日:2010-11-15

    Inventor: 松原弘宗

    CPC classification number: G01B11/028

    Abstract: 本发明提供非接触式探头和测量机。测量机(1)具有以非接触的方式检测阶梯规的非接触式探头(2)。非接触式探头(2)包括射出光的发光元件(4)、接受自发光元件(4)射出的光的受光元件(5)和将到达受光元件(5)的光路遮挡起来的光学滤光片(6)。光学滤光片(6)具备透过频带和阻断频带,上述透过频带能够使自发光元件(4)射出的光透过,上述阻断频带用于阻断受光元件(5)具有灵敏度的光。

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