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公开(公告)号:CN100501493C
公开(公告)日:2009-06-17
申请号:CN03131182.2
申请日:2003-05-16
Applicant: 株式会社三丰
CPC classification number: G02B27/145 , F21V7/0008 , F21Y2115/10 , G01N21/8806 , G01N2201/062 , G01N2201/0627 , G02B21/084 , Y10S362/80
Abstract: 在光学系统的光轴周围、多个相互之间发射光颜色不同的发光元件中,相同颜色的发光元件的组件在一个或多个基本上垂直于光轴的平面内排列成环状。用于将不同发光颜色的辐射光束合并起来生成具有特定色度的照明光的合并单元设置在发光方向的下游。再者,将照明光聚焦在朝向光轴的方向上的聚焦单元设置于合并单元之前。由于如此结构,能够向待测物体辐射出对应于待测物体表面颜色有一致的、非异常色度的照明光。
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公开(公告)号:CN102062585A
公开(公告)日:2011-05-18
申请号:CN201010547849.2
申请日:2010-11-15
Applicant: 株式会社三丰
Inventor: 松原弘宗
CPC classification number: G01B11/028
Abstract: 本发明提供非接触式探头和测量机。测量机(1)具有以非接触的方式检测阶梯规的非接触式探头(2)。非接触式探头(2)包括射出光的发光元件(4)、接受自发光元件(4)射出的光的受光元件(5)和将到达受光元件(5)的光路遮挡起来的光学滤光片(6)。光学滤光片(6)具备透过频带和阻断频带,上述透过频带能够使自发光元件(4)射出的光透过,上述阻断频带用于阻断受光元件(5)具有灵敏度的光。
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公开(公告)号:CN1458543A
公开(公告)日:2003-11-26
申请号:CN03131182.2
申请日:2003-05-16
Applicant: 株式会社三丰
CPC classification number: G02B27/145 , F21V7/0008 , F21Y2115/10 , G01N21/8806 , G01N2201/062 , G01N2201/0627 , G02B21/084 , Y10S362/80
Abstract: 在光学系统的光轴周围、多个相互之间发射光颜色不同的发光元件中,相同颜色的发光元件的组件在一个或多个基本上垂直于光轴的平面内排列成环状。用于将不同发光颜色的辐射光束合并起来生成具有特定色度的照明光的合并单元设置在发光方向的下游。再者,将照明光聚焦在朝向光轴的方向上的聚焦单元设置于合并单元之前。由于如此结构,能够向待测物体辐射出对应于待测物体表面颜色有一致的、非异常色度的照明光。
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