公开(公告)号：CN119374520A

公开(公告)日：2025-01-28

申请号：CN202410940012.6

申请日：2024-07-15

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 田中良昌 ,  贞平雄治 ,  佐伯刚

IPC: G01B11/245 ,  G01B5/00

Abstract: 本发明提供了一种用于测量三维几何形状的测量设备的校准夹具、校准方法和测量系统。该校准夹具(300)用于校准测量设备(10)，该测量设备(10)用于对测量对象的三维几何形状进行测量并且包括用于拍摄测量对象的多个摄像部(132)，该校准夹具包括：多个待测量元件(31)；以及框架部(40)，其附接有多个待测量元件(31)，其中，多个待测量元件(31)各自包括：主体部(32)，其具有预定形状；以及多个标签部(33)，其设置在主体部(32)上，其中，用于识别待测量元件(31)的识别码(36)被示出在各个标签部上。

公开(公告)号：CN118500287A

公开(公告)日：2024-08-16

申请号：CN202410172503.0

申请日：2024-02-07

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 田中良昌

IPC: G01B11/24 ,  G06T7/00 ,  G06T7/62

Abstract: 本发明公开了一种测量三维几何形状的测量设备的校准方法、测量系统和存储介质。该校准方法包括：第一摄像步骤，用于对校准夹具(30)进行摄像；第二摄像步骤，用于在使校准夹具(30)在预定第一方向上移动之后对校准夹具(30)进行摄像；第三摄像步骤，用于在使校准夹具(30)在预定第二方向上移动之后对校准夹具(30)进行摄像；第四摄像步骤，用于对校准夹具(30)进行摄像；第五摄像步骤，用于在使校准夹具(30)围绕以预定第三方向定向的轴旋转之后对校准夹具(30)进行摄像；第六摄像步骤，用于在使校准夹具(30)围绕以预定第四方向定向的轴旋转之后对校准夹具(30)进行摄像；以及识别用于测量设备(10)的校准的校准参数。

公开(公告)号：CN119374519A

公开(公告)日：2025-01-28

申请号：CN202410940011.1

申请日：2024-07-15

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 田中良昌 ,  繁野日雅留 ,  贞平雄治

IPC: G01B11/245 ,  G01B5/00

Abstract: 本发明公开了一种校准夹具(300A)，其用于校准对测量对象W的三维几何形状进行测量的测量设备，该校准夹具(300A)包括：多个待测量元件(331)；框架部(340)，多个待测量元件附接到所述框架部(340)；以及机构部(400)，用于移动框架部，其中，机构部(400)包括：旋转机构(405)，用于使框架部(340)围绕第一轴旋转；第一摆动机构(410)，用于使框架部(340)围绕与第一轴正交的第二轴摆动；以及第二摆动机构(420)，用于使框架部(340)围绕与第一轴和第二轴正交的第三轴摆动。