公开(公告)号：CN1172160C

公开(公告)日：2004-10-20

申请号：CN01121988.2

申请日：2001-06-19

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 藤川勇二

IPC: G01B3/22

CPC classification number: G01B3/18 ,  G01B3/008

Abstract: 一种比较测定器，包括：支架(2)，受其支架(2)支承并通过轴向进退相互进行分离或接近的测量轴和测砧(4)，使所述测砧(4)向所述测量轴施力的附加力装置(39)，抗住所述附加力装置(39)使所述测砧(4)相对所述测量轴后退的隔离装置(6)，指示器(7)以及将所述测砧(4)的移动量向所述指示器(7)传递的指示器驱动装置(8)。还具有嵌入在所述测砧(4)、所述附加力装置(39)、所述隔离装置(6)和所述指示器(7)中的至少一个以上与所述支架(2)外表面之间的边界部分的密封构件(40、43、47)以及可使所述附加力装置(39)的力变化的附加力调整装置(5)。

公开(公告)号：CN107504875B

公开(公告)日：2021-05-14

申请号：CN201710446581.5

申请日：2017-06-14

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 松本光司 ,  藤川勇二 ,  林田秀二 ,  林伸行

IPC: G01B3/00

Abstract: 一种测量仪器包括测量单元、电气部件单元和针脚插孔。电气部件单元包括信号处理部分。信号处理部分配置为基于由测量单元获得的检测信号来计算测量数据。针脚插孔设置在电气部件单元中。

公开(公告)号：CN110388860A

公开(公告)日：2019-10-29

申请号：CN201910299090.1

申请日：2019-04-15

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 辻本康裕 ,  藤川勇二

IPC: G01B3/18 ,  G05B19/04

Abstract: 提供了一种能够适当地设置原点的可调节测量力测量装置的控制方法。中央控制单元响应于预定模式改变操作而将操作模式改变为原点设置模式。在测量力检测部件在原点设置模式下检测到按预定压力使可移动构件与待测物体接触的情况下，中央控制单元将编码器的计数器值设置成零作为原点。

公开(公告)号：CN105180856B

公开(公告)日：2019-05-10

申请号：CN201510247522.6

申请日：2015-05-15

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 藤川勇二

IPC: G01B21/00

Abstract: 提供一种比较器，其包括：大致上U形的构架；测砧，其以可前进和可缩回的方式被支撑在构架的一端部；轴，其以可前进和可缩回的方式与测砧同轴地被支撑在构架的另一端部；测量单元，其测量测砧的前进和缩回；以及显示单元，其显示测量单元的测量结果。所述测量单元包括：测砧接触部，其依照测砧的前进和缩回绕支持轴旋转；联锁部，其形成为具有比测砧接触部更大的长度、被支撑从而绕支持轴可旋转、并且联接至测砧接触部；以及检测单元，其检测联锁部旋转的位移。

公开(公告)号：CN107504875A

公开(公告)日：2017-12-22

申请号：CN201710446581.5

申请日：2017-06-14

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 松本光司 ,  藤川勇二 ,  林田秀二 ,  林伸行

IPC: G01B3/00

CPC classification number: G01B3/002 ,  G01B3/18 ,  G01B3/20 ,  G01B3/22 ,  G01B3/38 ,  G01B2210/58

Abstract: 一种测量仪器包括测量单元、电气部件单元和针脚插孔。电气部件单元包括信号处理部分。信号处理部分配置为基于由测量单元获得的检测信号来计算测量数据。针脚插孔设置在电气部件单元中。

公开(公告)号：CN116929172A

公开(公告)日：2023-10-24

申请号：CN202310786376.9

申请日：2019-06-07

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 松本光司 ,  藤川勇二 ,  谷中慎一郎 ,  斋藤修

IPC: G01B3/18 ,  G01B5/02 ,  G01B7/14

Abstract: [问题]提供了一种数字千分尺，其适合于测量作为强磁体的待测对象物。[解决方案]该数字千分尺包括主体框架、测微螺杆、套管部和检测测微螺杆的移位的移位检测器。主体框架包括U字型框架部和测微螺杆保持部，测微螺杆保持部设置于U字型框架部的一端侧以便在远离砧座的方向上具有长度。测微螺杆由测微螺杆保持部保持，被设置成能够相对于砧座在轴向上进退，并且测微螺杆在一个端面上包括接触子。主体框架和测微螺杆由非磁性材料形成。

公开(公告)号：CN112352135B

公开(公告)日：2023-07-07

申请号：CN201980039557.7

申请日：2019-06-07

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 松本光司 ,  藤川勇二 ,  谷中慎一郎 ,  斋藤修

IPC: G01B3/18 ,  G01B5/02

Abstract: [问题]提供了一种数字千分尺，其适合于测量作为强磁体的待测对象物。[解决方案]该数字千分尺包括主体框架、测微螺杆、套管部和检测测微螺杆的移位的移位检测器。主体框架包括U字型框架部和测微螺杆保持部，测微螺杆保持部设置于U字型框架部的一端侧以便在远离砧座的方向上具有长度。测微螺杆由测微螺杆保持部保持，被设置成能够相对于砧座在轴向上进退，并且测微螺杆在一个端面上包括接触子。主体框架和测微螺杆由非磁性材料形成。

公开(公告)号：CN101629819B

公开(公告)日：2013-01-23

申请号：CN200910158555.8

申请日：2009-07-14

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 藤川勇二 ,  太刀挂正彦 ,  松本光司 ,  林田秀二

IPC: G01B21/14

CPC classification number: G01B5/12 ,  G01B3/008

Abstract: 本发明提供一种内径测量器。该内径测量器包括具有与主体(10)螺纹配合的外螺纹(14)且沿轴向进退的测杆(15)、设置于主体(10)上且沿与测杆(15)的轴向大致正交的方向进退的多个测量触头(22)、和设置在这些测量触头(22)与测杆(15)之间且随着测杆(15)的轴向的进退使测量触头(22)沿与测杆(15)的轴向大致正交的方向进退的圆锥构件(23)，测杆(15)的外螺纹(14)的导程形成为1.0mm以上，而且圆锥构件(23)的圆锥角形成为小于53度。优选外螺纹(14)的导程为2.0mm，圆锥构件(23)的圆锥角为大致28度。

公开(公告)号：CN102252572A

公开(公告)日：2011-11-23

申请号：CN201110091244.1

申请日：2011-04-08

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 林田秀二 ,  藤川勇二

IPC: G01B3/18

CPC classification number: G01B3/18

Abstract: 本发明提供一种测微仪，包括：固定套筒(20)，被固定在主体上；测杆(10)，与固定套筒螺纹配合；测微套筒(30)，能旋转地嵌合在固定套筒的外周，并且外端与测杆连结；操作套筒(40)，被嵌合在从测微套筒的外周直到测杆的外端的部位上，相对于测微套筒能旋转；定压机构(50)，被配置在操作套筒和测杆之间，向测杆传递操作套筒的旋转，并且对测杆施加规定以上的载荷时使操作套筒相对于测杆空转，该测微仪在测微套筒和操作套筒之间配置有滚珠轴承(61)。

公开(公告)号：CN101629819A

公开(公告)日：2010-01-20

申请号：CN200910158555.8

申请日：2009-07-14

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 藤川勇二 ,  太刀挂正彦 ,  松本光司 ,  林田秀二

IPC: G01B21/14

CPC classification number: G01B5/12 ,  G01B3/008

Abstract: 本发明提供一种内径测量器。该内径测量器包括具有与主体(10)螺纹配合的外螺纹(14)且沿轴向进退的测杆(15)、设置于主体(10)上且沿与测杆(15)的轴向大致正交的方向进退的多个测量触头(22)、和设置在这些测量触头(22)与测杆(15)之间且随着测杆(15)的轴向的进退使测量触头(22)沿与测杆(15)的轴向大致正交的方向进退的圆锥构件(23)，测杆(15)的外螺纹(14)的导程形成为1.0mm以上，而且圆锥构件(23)的圆锥角形成为小于53度。优选外螺纹(14)的导程为2.0mm，圆锥构件(23)的圆锥角为大致28度。