公开(公告)号：CN104422356A

公开(公告)日：2015-03-18

申请号：CN201410437827.9

申请日：2014-08-29

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： B.勒菲布弗 ,  M.内厄姆 ,  金.W.阿瑟顿

IPC: G01B3/20

CPC classification number: G01B5/0002 ,  G01B3/002 ,  G01B3/18 ,  G01B3/205 ,  G01B21/042 ,  G01B2210/58

Abstract: 一种用于耦接到诸如卡尺、测微器或计量器之类的测量装置的校准控制装置。所述校准控制装置包括电路部分并且耦接到测量装置上的耦接部件。校准限制部分将参数限制定义为与所述测量装置已经验证为被校准的有限时段有关。控制器操作校准控制装置的主机侧数据连接部分以当未超出使用限制时以第一模式输出测量数据，并且操作校准控制装置以当超出使用限制时执行校准限制功能。校准限制功能可以包括停止通过主机侧数据连接输出测量数据或提供校准失效警告给主机等。

公开(公告)号：CN104422356B

公开(公告)日：2019-02-22

申请号：CN201410437827.9

申请日：2014-08-29

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： B.勒菲布弗 ,  M.内厄姆 ,  金.W.阿瑟顿

IPC: G01B3/20

Abstract: 一种用于耦接到诸如卡尺、测微器或计量器之类的测量装置的校准控制装置。所述校准控制装置包括电路部分并且耦接到测量装置上的耦接部件。校准限制部分将参数限制定义为与所述测量装置已经验证为被校准的有限时段有关。控制器操作校准控制装置的主机侧数据连接部分以当未超出使用限制时以第一模式输出测量数据，并且操作校准控制装置以当超出使用限制时执行校准限制功能。校准限制功能可以包括停止通过主机侧数据连接输出测量数据或提供校准失效警告给主机等。