公开(公告)号：CN1288156A

公开(公告)日：2001-03-21

申请号：CN00127025.7

申请日：2000-09-11

Applicant: 株式会社佐竹制作所

Inventor： 佐竹觉 ,  伊藤隆文 ,  惠木正博

IPC: G01N21/85 ,  G01N21/88 ,  G01J3/46 ,  B07C5/342 ,  G06T1/00 ,  G06T7/00

CPC classification number: B07C5/3425 ,  B07C5/366

Abstract: 用光照射以连续形式流动的颗粒状物体,利用为了检测颗粒状物体的第一级缺陷部位而确定的预定亮度的门限值对来自一个固体成象装置的图像元素信号进行二进制量化,还用一个为了检测第二级缺陷部位而确定的预定亮度的门限值对上述图像元素信号进行二进制量化。能够有效地弹出具有虽然尺寸很小但却影响产品价值的重着色部位的颗粒状物体。

公开(公告)号：CN101088633B

公开(公告)日：2013-06-12

申请号：CN200710109183.0

申请日：2007-06-14

Applicant: 株式会社佐竹

Inventor： 伊藤隆文 ,  原正纯 ,  惠木正博 ,  土井贵广

IPC: B07C5/342 ,  G01N21/85

CPC classification number: B07C5/3425 ,  B07C5/366

Abstract: 一种光学裂纹粒挑选器，光学地识别原料米粒中混杂的裂纹粒时，不会由于存在胚芽部和/或表面划痕而将没有裂纹的正常颗粒误识别为裂纹粒。裂纹粒识别单元中的识别部可以根据由CCD摄像机中构造的第一CCD传感器接收的通过颗粒的光形成第一米粒图像(具有胚芽部和划痕)，并根据由CCD摄像机中构造的第二CCD传感器接收的通过颗粒的光形成第二米粒图像(具有裂纹、胚芽部和划痕)，并通过计算两个米粒图像之间光量的差获取裂纹图像并识别裂纹粒。

公开(公告)号：CN101088633A

公开(公告)日：2007-12-19

申请号：CN200710109183.0

申请日：2007-06-14

Applicant: 株式会社佐竹

Inventor： 伊藤隆文 ,  原正纯 ,  惠木正博 ,  土井贵广

IPC: B07C5/342 ,  G01N21/85

CPC classification number: B07C5/3425 ,  B07C5/366

Abstract: 一种光学裂纹粒挑选器，光学地识别原料米粒中混杂的裂纹粒时，不会由于存在胚芽部和/或表面划痕而将没有裂纹的正常颗粒误识别为裂纹粒。裂纹粒识别单元中的识别部可以根据由CCD摄像机中构造的第一CCD传感器接收的通过颗粒的光形成第一米粒图像(具有胚芽部和划痕)，并根据由CCD摄像机中构造的第二CCD传感器接收的通过颗粒的光形成第二米粒图像(具有裂纹、胚芽部和划痕)，并通过计算两个米粒图像之间光量的差获取裂纹图像并识别裂纹粒。