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公开(公告)号：CN112534244B
公开(公告)日：2024-10-25
申请号：CN201980052351.8
申请日：2019-08-01
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/85
Abstract: 本发明的目的在于提供一种谷粒品级判别装置，可通过避免光源显映在透明的样品盘的底部，以良好精度判别上述样品盘所载置的谷粒的外观品级。本发明是一种谷粒品级判别装置，相对于具有透明的底面的样品盘所载置的谷粒照射光，使光穿透上述谷粒，并基于来自上述谷粒的穿透光来判别上述谷粒的外观品级，其特征为，在上述样品盘的下方配设具有光源的照明机构，上述照明机构相对于上述样品盘所载置的谷粒照射间接光。本发明优选上述照明机构具有配设在上述样品盘的斜下方的光源区块，上述光源配设在上述光源区块的内侧，上述照明机构使来自上述光源的光在上述光源区块的内侧反射，并作为间接光相对于上述样品盘所载置的谷粒从斜下方照射。
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公开(公告)号：CN1296701C
公开(公告)日：2007-01-24
申请号：CN00107017.7
申请日：2000-04-24
Applicant: 株式会社佐竹
Abstract: 评估颗粒状物体质量的一种方法，包括：有选择地从颗粒状物体的前面和背面照射上述物体；从每个被照射物体的前、后两侧提取反射光和透射光图像；对反射光和透射光图像进行图像处理而获得每个物体的光学信息；由此获得颗粒状物体的形状信息；根据光学信息和形状信息确定每个物体的质量，包括完整和不完整的颗粒状物体的质量；计算每一种质量物体的数量，并获得每一种质量占颗粒状物体总数的比例；由光学信息制备出物体的采样图像。
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公开(公告)号：CN116670498A
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202180086479.3
申请日：2021-11-02
Applicant: 株式会社佐竹
Inventor： 池田学
IPC: G01N21/85
Abstract: 一种谷粒判别装置，其能够判别载置于透明托盘的谷粒的品质，所述谷粒判别装置具有：上方照相机，其配置于所述谷粒的上方并能够拍摄该谷粒的上表面；下方照相机，其配置于所述谷粒的下方并能够拍摄该谷粒的下表面；上方光源，其配置于所述谷粒的上方并能够对该谷粒的上表面进行照明；以及第一下方光源，其配置于所述谷粒的下方并能够对该谷粒的下表面进行照明。
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公开(公告)号：CN112534244A
公开(公告)日：2021-03-19
申请号：CN201980052351.8
申请日：2019-08-01
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/85
Abstract: 本发明的目的在于提供一种谷粒品级判别装置，可通过避免光源显映在透明的样品盘的底部，以良好精度判别上述样品盘所载置的谷粒的外观品级。本发明是一种谷粒品级判别装置，相对于具有透明的底面的样品盘所载置的谷粒照射光，使光穿透上述谷粒，并基于来自上述谷粒的穿透光来判别上述谷粒的外观品级，其特征为，在上述样品盘的下方配设具有光源的照明机构，上述照明机构相对于上述样品盘所载置的谷粒照射间接光。本发明优选上述照明机构具有配设在上述样品盘的斜下方的光源区块，上述光源配设在上述光源区块的内侧，上述照明机构使来自上述光源的光在上述光源区块的内侧反射，并作为间接光相对于上述样品盘所载置的谷粒从斜下方照射。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105102964B
公开(公告)日：2017-10-27
申请号：CN201480012071.1
申请日：2014-02-27
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/84
CPC classification number: G01N21/01 , G01N21/85 , G01N21/88 , G01N2201/022 , G01N2201/062
Abstract: 本发明的目的在于提供能够不使试样皿旋转就检测出因谷粒不同而方向各异的所有裂纹的谷粒透视器。本发明为一种谷粒透视器，使光从斜下方入射至试样皿的透明的底面，上述谷粒透视器的特征在于，具备：基座部件；能够旋转地配设在上述基座部件内，并在一侧具有光源的旋转部件；以及安装在上述基座部件上并与该基座部件一同构成外框，具有位于上述旋转部件的上方并承接上述试样皿的开口部的罩部件，在上述旋转部件上设置用于对该旋转部件进行旋转操作的操作部，并且在上述外框形成开口，使上述操作部经由上述开口从上述外框向外部伸出并且能够以上述旋转部件的中心为轴进行摆动。
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公开(公告)号：CN105102964A
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201480012071.1
申请日：2014-02-27
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/84
CPC classification number: G01N21/01 , G01N21/85 , G01N21/88 , G01N2201/022 , G01N2201/062
Abstract: 本发明的目的在于提供能够不使试样皿旋转就检测出因谷粒不同而方向各异的所有裂纹的谷粒透视器。本发明为一种谷粒透视器，使光从斜下方入射至试样皿的透明的底面，上述谷粒透视器的特征在于，具备：基座部件；能够旋转地配设在上述基座部件内，并在一侧具有光源的旋转部件；以及安装在上述基座部件上并与该基座部件一同构成外框，具有位于上述旋转部件的上方并承接上述试样皿的开口部的罩部件，在上述旋转部件上设置用于对该旋转部件进行旋转操作的操作部，并且在上述外框形成开口，使上述操作部经由上述开口从上述外框向外部伸出并且能够以上述旋转部件的中心为轴进行摆动。
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公开(公告)号：CN1271857A
公开(公告)日：2000-11-01
申请号：CN00107017.7
申请日：2000-04-24
Applicant: 株式会社佐竹制作所
IPC: G01N21/85
Abstract: 评估颗粒状物体质量的一种方法,包括:有选择地从颗粒状物体的前面和背面照射上述物体;从每个被照射物体的前、后两侧提取反射光和透射光图像;对反射光和透射光图像进行图像处理而获得每个物体的光学信息;由此获得颗粒状物体的形状信息;根据光学信息和形状信息确定每个物体的质量,包括完整和不完整的颗粒状物体的质量;计算每一种质量物体的数量,并获得每一种质量占颗粒状物体总数的比例;由光学信息制备出物体的采样图像。
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公开(公告)号：CN215448886U
公开(公告)日：2022-01-07
申请号：CN202121666608.X
申请日：2021-07-21
Applicant: 株式会社佐竹
Inventor： 池田学
IPC: G01N15/00
Abstract: 本实用新型的课题在于提供一种能够利用简单的构造来进行传感器的校正的谷物粒检查器，谷物粒检查器(1)具备：对配置于检查位置的试样盘(7)上的谷物粒进行检测的传感器(31)；以及用于传感器(31)的校正且在进行传感器(31)的校正的校正位置与从校正位置退避的退避位置之间运动的基准部件(9)，在试样盘(7)配置于检查位置时，基准部件(9)从试样盘(7)受到按压力而从校正位置向退避位置运动。
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