公开(公告)号：CN108226064A

公开(公告)日：2018-06-29

申请号：CN201711212784.4

申请日：2017-11-28

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 涩谷享司 ,  福城显辅 ,  太田敏雄 ,  西村克美

IPC: G01N21/31

Abstract: 本发明提供利用光吸收的分析装置、计算机可读存储介质和分析方法，能通过简单计算且能排除光源强度的变动和其它物质的干扰影响等地高精度地测定测定对象成分的吸光度或浓度。分析装置包括：光源(2)，射出用规定的调制频率对波长进行了调制的参考光；光检测器(3)，检测作为参考光透过测定对象成分后的光的测定对象光的强度和参考光的强度；第一计算部(61)，计算作为测定对象光的强度与参考光的强度之比的对数的强度比对数；频率成分抽出部(62)，用具有调制频率的n倍(n为1以上的整数)的频率的参照信号对强度比对数进行锁定检测；及第二计算部(63)，根据频率成分抽出部(62)的检测结果，计算测定对象成分的浓度或吸光度。

公开(公告)号：CN108226064B

公开(公告)日：2020-09-15

申请号：CN201711212784.4

申请日：2017-11-28

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 涩谷享司 ,  福城显辅 ,  太田敏雄 ,  西村克美

IPC: G01N21/31

Abstract: 本发明提供利用光吸收的分析装置、计算机可读存储介质和分析方法，能通过简单计算且能排除光源强度的变动和其它物质的干扰影响等地高精度地测定测定对象成分的吸光度或浓度。分析装置包括：光源(2)，射出用规定的调制频率对波长进行了调制的参考光；光检测器(3)，检测作为参考光透过测定对象成分后的光的测定对象光的强度和参考光的强度；第一计算部(61)，计算作为测定对象光的强度与参考光的强度之比的对数的强度比对数；频率成分抽出部(62)，用具有调制频率的n倍(n为1以上的整数)的频率的参照信号对强度比对数进行锁定检测；及第二计算部(63)，根据频率成分抽出部(62)的检测结果，计算测定对象成分的浓度或吸光度。

公开(公告)号：CN118176413A

公开(公告)日：2024-06-11

申请号：CN202280073131.5

申请日：2022-11-25

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 涩谷享司 ,  滨内翔太 ,  花田贵明 ,  福城显辅 ,  原健儿 ,  名仓直希 ,  塚谷康辅 ,  新名広大 ,  井户琢也

IPC: G01N21/3504

Abstract: 本发明提供分析装置、分析装置用程序以及分析方法。本发明是在利用光吸收的分析装置中，降低因周围温度变化而引起的激光光源的振荡波长的调制宽度的变动，高精度地测定测定对象成分的浓度，分析样品中包含的测定对象成分的分析装置(100)，具备：激光光源(2)，向样品照射参照光；光检测器(5)，检测参照光透过样品后的样品光的强度；温度调节部(3)，调整激光光源的温度；温度传感器(4)，检测激光光源的周围温度；关系数据存储部(73)，存储调制校正用关系数据，所述调制校正用关系数据表示激光光源(2)的周围温度与校正用参数的关系，所述校正用参数用于校正激光光源的相对于用于测定测定对象成分的既定的调制宽度的调制宽度偏移；以及控制部(7)，使用温度传感器(4)的检测温度以及调制校正用关系数据，变更温度调节部(3)的目标温度，或者变更为了激光光源(2)的波长调制而施加的驱动电压和驱动电流中的至少一方。

公开(公告)号：CN109596538B

公开(公告)日：2023-08-25

申请号：CN201811122846.7

申请日：2018-09-26

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 涩谷享司 ,  福城显辅 ,  太田敏雄 ,  西村克美

IPC: G01N21/31

Abstract: 本发明提供一种分析装置(100)，对导入样品的测量腔(1)照射脉冲振荡的光，分析所述样品中所含有的测量对象成分，所述分析装置不缩短脉冲宽度就能够抑制波长分辨率降低，所述分析装置具备：脉冲振荡的多个光源(2)；光检测器(3)，检测由所述光源(2)射出并通过所述测量腔(1)的光；信号分离部(6)，从由所述光检测器(3)得到的光强度信号中分离出与所述光源的脉冲振荡的一部分对应的信号。

公开(公告)号：CN109596538A

公开(公告)日：2019-04-09

申请号：CN201811122846.7

申请日：2018-09-26

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 涩谷享司 ,  福城显辅 ,  太田敏雄 ,  西村克美

IPC: G01N21/31

CPC classification number: G01N21/39 ,  G01J3/10 ,  G01J3/433 ,  G01J3/4338 ,  G01J2001/4242 ,  G01J2003/4332 ,  G01J2003/4334 ,  G01N21/3504 ,  G01N2021/396 ,  G01N2201/12 ,  G01N21/31

Abstract: 本发明提供一种分析装置(100)，对导入样品的测量腔(1)照射脉冲振荡的光，分析所述样品中所含有的测量对象成分，所述分析装置不缩短脉冲宽度就能够抑制波长分辨率降低，所述分析装置具备：脉冲振荡的多个光源(2)；光检测器(3)，检测由所述光源(2)射出并通过所述测量腔(1)的光；信号分离部(6)，从由所述光检测器(3)得到的光强度信号中分离出与所述光源的脉冲振荡的一部分对应的信号。