探测卡
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103261896B

    公开(公告)日:2015-11-25

    申请号:CN201180059871.5

    申请日:2011-12-15

    Inventor: 绢田精镇

    CPC classification number: G01R1/07357 G01R1/06722 G01R1/06755

    Abstract: 提供一种探测卡,进行高密度的被测微电路基板的电气检查时使用。具备:多个探针;绝缘体,具有该探针贯通的多个贯通孔;以及位于该绝缘体的两侧,具有分别插入探针的端部的支撑孔的一对基板,该一对基板设置为能够与所述绝缘体滑动,并且该一个基板由热膨胀系数与被测微电路基板的热膨胀系数具有相同值或近似值的材料形成,该另一个基板由热膨胀系数与信号输入输出用布线板的热膨胀系数具有相同值或近似值的材料形成。据此,即使被测微电路基板以及信号输入输出用布线板发生热膨胀,也能够使探针与被测微电路基板以及信号输入输出用布线板各自的电极始终接触,并且相邻的探针不会发生短路,因此能够一次性并且可靠地进行高密度的被测微电路基板的电气检查。

    筛子、筛装置、钎料球和球形粒子的筛分方法

    公开(公告)号:CN101716573A

    公开(公告)日:2010-06-02

    申请号:CN200910204013.X

    申请日:2009-09-30

    Inventor: 绢田精镇

    Abstract: 本发明涉及一种筛子、筛装置、钎料球和球形粒子的筛分方法。提供一种提高筛子的效率从而大幅度改善筛分作业生产性的筛装置。该筛装置具备的筛子(1)由镍合金制成,把筛分钎料球(2)的孔的形状设定为长孔(3),且以使该长孔(3)在长度方向的延长线上与其他长孔(3)在其他长孔(3)的长度方向的中点(a)处正交的方式,设置多个长孔(3),而且使长孔(3)的宽度(W)与要分级的钎料球(2)的直径(x)相等。

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