距离测定装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102866404A

    公开(公告)日:2013-01-09

    申请号:CN201210230032.1

    申请日:2012-07-04

    Inventor: 大室仁

    CPC classification number: G01S17/10 G01S7/497

    Abstract: 本发明提供在反射光的受光水平成为饱和状态时也能够高精度地测定距离的距离测定装置。距离测定装置的发光部朝向被测定物出射测定光。受光部,对从被测定物反射的反射光进行受光。距离计算部,基于从出射测定光时起到反射光的受光水平表示峰值的时刻为止的经过时间,求取到被测定物的距离。距离修正部,在受光水平成为饱和状态、峰值的时刻不能够确定时,根据受光水平饱和的时间的长度修正到被测定物的距离的值。

    距离测定装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102866404B

    公开(公告)日:2016-04-13

    申请号:CN201210230032.1

    申请日:2012-07-04

    Inventor: 大室仁

    CPC classification number: G01S17/10 G01S7/497

    Abstract: 本发明提供在反射光的受光水平成为饱和状态时也能够高精度地测定距离的距离测定装置。距离测定装置的发光部朝向被测定物出射测定光。受光部,对从被测定物反射的反射光进行受光。距离计算部,基于从出射测定光时起到反射光的受光水平表示峰值的时刻为止的经过时间,求取到被测定物的距离。距离修正部,在受光水平成为饱和状态、峰值的时刻不能够确定时,根据受光水平饱和的时间的长度修正到被测定物的距离的值。

Patent Agency Ranking