眼科装置及其控制方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114615922A

    公开(公告)日:2022-06-10

    申请号:CN202080074739.0

    申请日:2020-09-30

    Abstract: 提供一种能够高精度且可靠地获取受检眼的眼特性的眼科装置及其控制方法。眼科装置具有:脸支撑部,支撑受检者的脸;前眼部像获取部,反复获取被脸支撑部支撑的脸的受检眼的前眼部像;瞳孔像检测部,基于由前眼部像获取部反复获取到的前眼部像,对每个前眼部像检测受检眼的瞳孔像;以及判断部,基于瞳孔像检测部对每个前眼部像的瞳孔像的检测结果,判断脸是否被脸支撑部正确地支撑。

    光图像计测装置及眼底观察装置

    公开(公告)号:CN1947652B

    公开(公告)日:2010-09-29

    申请号:CN200610140037.X

    申请日:2006-10-11

    CPC classification number: G01N21/4795 A61B3/102 A61B3/145 G01N2021/1787

    Abstract: 本发明提供一种光图像计测装置,即使在信号光的扫描中被测定物体有动作的情况下,也可形成高准确度的图像。该光图像计测装置1包括:干涉仪,将低干涉光LO分割为信号光LS和参照光LR,并使由眼底Er所反射的信号光LS和由参照镜14所反射的参照光LR进行重叠而生成干涉光LC;CCD34,接受干涉光LC并输出检测信号;电流镜22、23,将信号光LS沿主扫描方向、副扫描方向进行扫描;计算机40,用以形成在副扫描方向的不同位置之沿主扫描方向的断层图像G1~Gm。电流镜22、23沿与主扫描方向交叉的设定方向扫描信号光LS,计算机40形成沿该设定方向的修正用断层图像GR,并根据修正用断层图像GR对各断层图像Gi的位置偏离进行修正。

    眼底观察装置
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101040777B

    公开(公告)日:2012-11-07

    申请号:CN200710088299.0

    申请日:2007-03-22

    CPC classification number: A61B3/102

    Abstract: 提供一种有效且效率地进行使用眼底断层图像的持续观察的眼底观察装置。图像形成部形成眼底表面的二维图像(眼底图像)和眼底的断层图像。第一检查日时取得的眼底图像和断层图像以及第二检查日时取得的眼底图像和断层图像记忆在图像记忆部。位置信息产生部产生显示在眼底图像的断层图像位置的位置信息以及显示在眼底图像的断层图像位置的位置信息。产生的位置信息记忆在信息记忆部。图像处理部基于位置信息,进行断层图像定位。

    眼底观察装置以及眼底图像处理装置

    公开(公告)号:CN101254090A

    公开(公告)日:2008-09-03

    申请号:CN200810006180.9

    申请日:2008-02-21

    Abstract: 本发明可以高精度地求出受检眼的眼球光学系统的倍率。眼底观察装置(1)是OCT装置,其检测基于低相干光(L0)的干涉光(LC),并根据其检测结果来形成眼底(Ef)的断层图像(Gi)。另外,眼底观察装置(1)也作为拍摄眼底图像(Ef)的眼底相机而发挥作用。断层图像或眼底图像和显示受检眼(E)的眼球光学系统状态的光学信息(V)一起被存储在存储部(212)中。倍率运算部(231)根据光学信息来运算受检眼的眼球光学系统的倍率。分析部(232)根据断层图像来形成积分图像,并根据所述倍率对积分图像和眼底图像进行定位。另外,分析部将和设定在眼底图像上的计测线(L1~L3)相对应的断层图像设定为计测位置,并求出该计测位置上的眼底的层厚度。

    眼底观察装置以及眼底图像处理装置

    公开(公告)号:CN101254090B

    公开(公告)日:2011-11-02

    申请号:CN200810006180.9

    申请日:2008-02-21

    Abstract: 本发明可以高精度地求出受检眼的眼球光学系统的倍率。眼底观察装置(1)是OCT装置,其检测基于低相干光(L0)的干涉光(LC),并根据其检测结果来形成眼底(Ef)的断层图像(Gi)。另外,眼底观察装置(1)也作为拍摄眼底图像(Ef)的眼底相机而发挥作用。断层图像或眼底图像和显示受检眼(E)的眼球光学系统状态的光学信息(V)一起被存储在存储部(212)中。倍率运算部(231)根据光学信息来运算受检眼的眼球光学系统的倍率。分析部(232)根据断层图像来形成积分图像,并根据所述倍率对积分图像和眼底图像进行定位。另外,分析部将和设定在眼底图像上的计测线(L1~L3)相对应的断层图像设定为计测位置,并求出该计测位置上的眼底的层厚度。

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