公开(公告)号：CN102933967B

公开(公告)日：2015-03-18

申请号：CN201180028145.7

申请日：2011-06-07

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 稻叶亨 ,  松冈晋弥 ,  坂诘卓 ,  山下善宽 ,  岛田贤史 ,  小木修 ,  原田裕至

IPC: G01N35/00 ,  B03C1/00 ,  G01N33/543 ,  G01N35/08

CPC classification number: G01N33/5306 ,  B03C1/01 ,  B03C1/033 ,  B03C1/0332 ,  B03C1/288 ,  B03C2201/18 ,  B03C2201/22 ,  B03C2201/24 ,  B03C2201/26 ,  G01N33/54326 ,  G01N33/57438 ,  G01N33/57484 ,  G01N35/0098

Abstract: 本发明提供抑制磁性粒子（10）吸附的不均匀，以精度更好、高精度地进行检测的分析装置和分析方法。提供的试样分析装置具有：使含磁性粒子（10）的试样在其内部流动的流路（15）、以及在该流路（15）的磁性粒子捕捉区域中产生捕捉所述磁性粒子（10）的磁场的磁场产生设备（12），按照以下至少一种方式来构成：按照使粒子捕捉区域的下游端的流路截面积大于所述粒子捕捉区域的上游端的流路截面积的方式来构成，或者按照使所述磁场产生设备（12）所产生的磁场的大小在所述粒子捕捉区域的下游侧比上游侧大的方式来构成。

公开(公告)号：CN102933967A

公开(公告)日：2013-02-13

申请号：CN201180028145.7

申请日：2011-06-07

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 稻叶亨 ,  松冈晋弥 ,  坂诘卓 ,  山下善宽 ,  岛田贤史 ,  小木修 ,  原田裕至

IPC: G01N35/00 ,  B03C1/00 ,  G01N33/543 ,  G01N35/08

CPC classification number: G01N33/5306 ,  B03C1/01 ,  B03C1/033 ,  B03C1/0332 ,  B03C1/288 ,  B03C2201/18 ,  B03C2201/22 ,  B03C2201/24 ,  B03C2201/26 ,  G01N33/54326 ,  G01N33/57438 ,  G01N33/57484 ,  G01N35/0098

Abstract: 本发明提供抑制磁性粒子（10）吸附的不均匀，以精度更好、高精度地进行检测的分析装置和分析方法。提供的试样分析装置具有：使含磁性粒子（10）的试样在其内部流动的流路（15）、以及在该流路（15）的磁性粒子捕捉区域中产生捕捉所述磁性粒子（10）的磁场的磁场产生设备（12），按照以下至少一种方式来构成：按照使粒子捕捉区域的下游端的流路截面积大于所述粒子捕捉区域的上游端的流路截面积的方式来构成，或者按照使所述磁场产生设备（12）所产生的磁场的大小在所述粒子捕捉区域的下游侧比上游侧大的方式来构成。