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公开(公告)号：CN107076673A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201480082061.5
申请日：2014-10-16
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: G01N21/658 , G01N21/6458 , G01N21/65 , G01N33/48721 , G01Q60/22 , G11B7/08 , G11B7/08576 , G11B7/1387 , G11B7/22 , G11B23/0318
Abstract: 本发明能够无需中断测定而以简单的构成高精度地控制向多纳米细孔基板的激励光照射。针对设置在观察容器(103)中的基板上的至少一个纳米细孔和至少一个基准对象，同时进行激励光的照射，基于由检测器(109)检测的从基准对象产生的信号，运算激励光照射向测定样品的位置，基于运算结果由驱动控制部(115)来控制针对测定样品的激励光照射的位置，同时进行测定对象的测定，从而同时进行测定和固定位置控制，由此能够短时间地进行测定样品的解析。
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公开(公告)号：CN106489092B
公开(公告)日：2019-09-06
申请号：CN201580015668.6
申请日：2015-03-12
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 显微镜观察容器收纳有通过物镜镜筒体来观察的样品，该物镜镜筒体具备沿激发光的照射方向延伸的壳体和固定于壳体的内表面的物镜。显微镜观察容器具备结构体，该构造体具有在观察时与物镜镜筒体抵接的部位且蓄存通过分注所添加的液浸介质。在观察时，通过上述部位和物镜镜筒体抵接，用物镜镜筒体和结构体将液浸介质密封。另外，上述部位具有弹力，且通过抵接而以与物镜的壳体匹配的方式变形。
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公开(公告)号：CN107076673B
公开(公告)日：2020-07-03
申请号：CN201480082061.5
申请日：2014-10-16
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明能够无需中断测定而以简单的构成高精度地控制向多纳米细孔基板的激励光照射。针对设置在观察容器(103)中的基板上的至少一个纳米细孔和至少一个基准对象，同时进行激励光的照射，基于由检测器(109)检测的从基准对象产生的信号，运算激励光照射向测定样品的位置，基于运算结果由驱动控制部(115)来控制针对测定样品的激励光照射的位置，同时进行测定对象的测定，从而同时进行测定和固定位置控制，由此能够短时间地进行测定样品的解析。
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公开(公告)号：CN106489092A
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201580015668.6
申请日：2015-03-12
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 显微镜观察容器收纳有通过物镜镜筒体来观察的样品，该物镜镜筒体具备沿激发光的照射方向延伸的壳体和固定于壳体的内表面的物镜。显微镜观察容器具备结构体，该构造体具有在观察时与物镜镜筒体抵接的部位且蓄存通过分注所添加的液浸介质。在观察时，通过上述部位和物镜镜筒体抵接，用物镜镜筒体和结构体将液浸介质密封。另外，上述部位具有弹力，且通过抵接而以与物镜的壳体匹配的方式变形。
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