-
-
-
公开(公告)号：JP2016070662A
公开(公告)日：2016-05-09
申请号：JP2014196312
申请日：2014-09-26
Applicant: 株式会社東京精密
Abstract: 【課題】被測定物の平坦な表面の表面粗さを測定する場合と同等の精度及び評価基準で球体又は回転体からなる被測定物の周面の表面粗さを測定、評価することができ、かつ、装置の大型化やコストの増大が生じない表面粗さ測定機を提供する。 【解決手段】表面粗さ測定機1は、ワーク設置板48がワークWの周面の下側の一部を第1部位として支持し、ゴム部86がワークWの周面の上側の一部を第2部位として第2部位に接触しながら駆動部によりワークWの回転軸に対して直交する方向に移動することによりワークWを回転させる。そして、検出器30がワークWの周面の下側の一部である第3部位に対向する位置に固定され、ワークWの周面の円周方向の表面粗さを検出する。 【選択図】図6
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种表面粗糙度测量仪器，其可以测量和评估由球体或转子组成的测量对象的表面粗糙度，其精度和评估基准等于平坦表面的表面粗糙度 测量物体的尺寸，并且不会增加装置的尺寸或成本增加。解决方案：在表面粗糙度测量仪1中，工件安装板48支撑工件W的外周表面的下侧的一部分 作为第一部分，并且与作为工件W的周面的上侧的一部分的第二部分接触时，橡胶部86沿与工件W的旋转轴正交的方向移动，通过 驱动单元，其又工作W旋转。 然后，检测器30被固定在与工件W的周面的下侧的一部分的第三部分相对的位置，以检测工件W的周面的周向的表面粗糙度。选择的图 ：图6
-
公开(公告)号：JP2015068648A
公开(公告)日：2015-04-13
申请号：JP2013200288
申请日：2013-09-26
Applicant: 株式会社東京精密
IPC: G01B5/20
Abstract: 【課題】ワークの円筒面の直径(半径)を精度良く求めることができ、高精度な真円度測定が可能な真円度測定装置を提供する。 【解決手段】ベース12と、載置されたワーク14を回転する回転台16と、回転台の回転軸に対して平行に伸びるコラム20と、コラムに沿って移動可能なキャリッジ22と、ホルダ支持部材34及びホルダ固定部36を有し、ホルダ固定部を回転台の回転軸とワークの測定点を含む測定平面に平行に移動可能な検出器ホルダ移動機構24と、測定子30が測定平面で変位可能なように、検出器ホルダに取り付けられた検出器28と、検出器ホルダ移動機構に設けられ、検出器ホルダの測定平面に平行な方向の位置を検出する第1及び第2の位置検出手段42,44,46,48と、各位置検出手段の検出結果に基づいて、検出器の測定子がワークに接触する測定点の位置を算出する測定点算出手段と、を備える真円度測定装置。 【選択図】図2
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种能够精确地获得工件的圆柱形表面的直径（半径）并且以高精度测量圆形度的圆度测量装置。解决方案：圆度测量装置包括：基部12; 用于旋转安装的工件14的转台16; 平行于旋转台的旋转轴延伸的柱20; 可沿柱移动的托架22; 具有保持器支撑构件34和保持器固定部36的检测器保持器移动机构24，并且能够将保持器固定部平行于包括旋转台的旋转轴和作业的测量点的测量平面移动; 附接到检测器保持器的检测器28，用于使得测量元件30能够在测量平面中移位; 第一和第二位置检测装置42,44,46和48，用于检测与检测器支架的测量平面平行的方向上的位置; 以及测量点计算装置，用于根据每个位置检测装置的检测结果来计算检测器的测量元件与工件接触的测量点的位置。
-
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP2017040661A
公开(公告)日：2017-02-23
申请号：JP2016197213
申请日：2016-10-05
Applicant: 株式会社東京精密
Abstract: 【課題】真円度測定のデータと表面粗さ測定のデータとに各々により得られたデータを相互に有効利用し、測定精度の向上等を図ることができる形状測定装置及び形状測定方法を提供する。 【解決手段】測定対象物Wを周方向に相対的に回転する回転移動部12と、回転する測定対象物の真円度測定を行う第1測定部24と、第1測定部に対して周方向の反対側の位置において、回転する測定対象物の表面粗さ測定を行う第2測定部124と、測定対象物の回転角度を検出する回転角度検出手段と、を備え、第1測定部による真円度測定の測定結果の取得と、第2測定部による表面粗さ測定の測定結果の取得とを、回転角度検出手段の検出結果に基づき測定対象物が一定回転角度を回転する毎に同時に行う。 【選択図】図13
Abstract translation: 提供的是由相应的有效利用相互并将获得的数据和测量的表面粗糙度测量的数据，该形状测定装置及形状测定方法能够被改进的圆度数据，如测量精度 到。 和用于在圆周方向上，用于测量所述测量物体的旋转圆度，圆周相对于所述第一测量单元，所述第一测量单元24相对旋转的测量对象W A旋转运动单元12 在相反方向的位置上，与第二测量单元124来执行测量对象的表面粗糙度测量中旋转时，旋转角度检测装置，用于检测测量对象的旋转角度，并且通过所述第一测量单元 并获得真圆度测量的测量结果，通过第二测定单元，每次测量结果采集表面粗糙度测量的基础上，旋转角检测装置的检测结果来测量对象的同时旋转预定的旋转角度 这样做。 .The 13
-
公开(公告)号：JP2016191662A
公开(公告)日：2016-11-10
申请号：JP2015072599
申请日：2015-03-31
Applicant: 株式会社東京精密
Abstract: 【課題】真円度測定により得られたデータを表面粗さ測定に有効に利用し、測定作業の負担軽減や測定効率の向上等を図ることができる形状測定装置を提供する。 【解決手段】形状測定装置は、真円度測定装置の構成を有し、ワークに対して真円度測定を行った後(ステップS10〜S14)、その測定結果に基づいて表面粗さ測定における測定条件を設定する(ステップS16〜S32)。その設定した測定条件に従って表面粗さ測定を実施する。 【選択図】図3
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种形状测量装置，其能够有效地利用从圆形度测量获得的数据，以有效地减少测量工作的负担并提高测量效率。一种形状测量装置，包括圆形度测量装置和 对工件进行圆度测量（步骤S10〜S14），根据其后的测量结果设定表面粗糙度测量的测量条件（步骤S16至S32）。 然后，设备根据设定的测量条件进行表面粗糙度测量。选择图：图3
-
公开(公告)号：JP5939476B1
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：JP2015072599
申请日：2015-03-31
Applicant: 株式会社東京精密
Abstract: 【課題】真円度測定により得られたデータを表面粗さ測定に有効に利用し、測定作業の負担軽減や測定効率の向上等を図ることができる形状測定装置を提供する。 【解決手段】形状測定装置は、真円度測定装置の構成を有し、ワークに対して真円度測定を行った後(ステップS10〜S14)、その測定結果に基づいて表面粗さ測定における測定条件を設定する(ステップS16〜S32)。その設定した測定条件に従って表面粗さ測定を実施する。 【選択図】図3
Abstract translation: 在通过测量圆度获得的表面粗糙度测量数据A有效地使用，以提供一种可以象的负担和测量效率测量操作得到改善的形状测定装置。 形状测量装置具有一个圆度测量装置的结构，圆度测量所述工件（步骤S10至S14），测得的表面粗糙度基于所述测量结果后 设置测量条件（步骤S16〜S32）。 实现根据所设定的测定条件的表面粗糙度测量。 点域
-
公开(公告)号：JP2021179380A
公开(公告)日：2021-11-18
申请号：JP2020085358
申请日：2020-05-14
Applicant: 株式会社東京精密
IPC: G01B5/20
Abstract: 【課題】測定対象物の形状測定の異常発生の原因を容易に検出可能な形状測定機及びその制御方法を提供する。 【解決手段】予め定められた検出器感度方向に沿った接触子の変位を検出する変位検出器と、測定対象物に対して変位検出器を相対移動させて測定対象物の被測定面を接触子によりトレースさせる相対移動機構と、測定対象物に対する変位検出器の相対位置を検出する位置検出センサと、検出器感度方向の振動を検出する振動検出部と、相対移動機構による相対移動が行われている間、位置検出センサによる相対位置の検出と変位検出器による変位の検出と振動検出部による振動の検出とを含む3つの動作を互いに同期させて繰り返し実行させる同期制御部と、を備える。 【選択図】図1
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
30
records
(took 0.037 seconds)
