公开(公告)号：CN1198147C

公开(公告)日：2005-04-20

申请号：CN01801661.8

申请日：2001-06-13

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 佐藤敦 ,  中村政文 ,  井畑刚裕

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/26

CPC classification number: G01R31/319

Abstract: 本发明提供一种可以监视继电器动作次数等的测试履历的半导体测试装置及其监视装置。为此，在由总线的信号信息控制各测试电路，进行被测定器件的测试的半导体测试装置中设置：多个缓冲存储器，交替写入上述总线的信号信息；计算机，交替读出这该多个缓冲存储器的信号信息，作为文件保存、解析，具备可以监视测试履历的解决方案。

公开(公告)号：CN1383491A

公开(公告)日：2002-12-04

申请号：CN01801661.8

申请日：2001-06-13

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 佐藤敦 ,  中村政文 ,  井畑刚裕

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/26

CPC classification number: G01R31/319

Abstract: 本发明提供一种可以监视继电器动作次数等的测试履历的半导体测试装置及其监视装置。为此,在由总线的信号信息控制各测试电路,进行被测定器件的测试的半导体测试装置中设置:多个缓冲存储器,交替写入上述总线的信号信息;计算机,交替读出这该多个缓冲存储器的信号信息,作为文件保存、解析,具备可以监视测试履历的解决方案。