公开(公告)号：CN102918407A

公开(公告)日：2013-02-06

申请号：CN201080066287.8

申请日：2010-04-22

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 川原贵夫 ,  中村隆之

IPC: G01R31/28 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01R31/2851 ,  G01R31/2841

Abstract: 本发明涉及PIN卡及使用PIN卡的试验装置。在I/O端子（Pio）上连接有DUT1。交流试验单元（30）进行DUT1的交流试验。直流试验单元（40）进行DUT1的直流试验。光半导体开关（10）的第一端子（P1）与交流试验单元（30）连接，第二端子（P2）与I/O端子（Pio）连接。光半导体开关（10）根据输入到控制端子（P3、P4）的控制信号，可切换第一端子（P1）和第二端子（P2）之间的导通、切断状态。第一阻抗电路（20）设置在对正极控制端子（P3）的控制信号的信号路径上，第二阻抗电路（22）设置在对负极控制端子（P4）的控制信号的信号路径上。

公开(公告)号：CN102918407B

公开(公告)日：2015-05-13

申请号：CN201080066287.8

申请日：2010-04-22

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 川原贵夫 ,  中村隆之

IPC: G01R31/28 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01R31/2851 ,  G01R31/2841

Abstract: 本发明涉及PIN卡及使用PIN卡的试验装置。在I/O端子（Pio）上连接有DUT1。交流试验单元（30）进行DUT1的交流试验。直流试验单元（40）进行DUT1的直流试验。光半导体开关（10）的第一端子（P1）与交流试验单元（30）连接，第二端子（P2）与I/O端子（Pio）连接。光半导体开关（10）根据输入到控制端子（P3、P4）的控制信号，可切换第一端子（P1）和第二端子（P2）之间的导通、切断状态。第一阻抗电路（20）设置在对正极控制端子（P3）的控制信号的信号路径上，第二阻抗电路（22）设置在对负极控制端子（P4）的控制信号的信号路径上。