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公开(公告)号：CN1171092C
公开(公告)日：2004-10-13
申请号：CN97181347.7
申请日：1997-11-20
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 桥本好弘
CPC classification number: G01R31/2834
Abstract: 在一种IC测试装置中，将一个电流检测电阻器连接在被测试IC的一个电源端子和一个公共电位点之间，并且，将一个短路开关与所述电流检测电阻器并联连接，以旁路所述IC在其第一状态下时的大电流。当所述IC处于第二状态下时短路开关断开，因而可测量由于静止电流在电流检测电阻器上两端产生的电压，并且基于所测量的电压来计算出静止电流。如果所测得的静止电流大于一个规定值，则将所述IC判定为不合格产品。还提供了控制装置，用于无论何时在所述IC处于其第二状态时所述电流检测电阻器上的电压上升到规定值以上，都接通开关，并且提供了延迟控制装置，用于当IC变为其第二状态时以规定的时延延迟断开开关。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1244924A
公开(公告)日：2000-02-16
申请号：CN97181378.7
申请日：1997-12-02
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 桥本好弘
Abstract: 一种施加电压测定电流的装置,向运算放大器的正相输入端子提供规定电压,向反相输入端子提供施加到负载上的电压,在所述运算放大器的输出端子和负载之间连接电流测定电阻器,测定该电流测定电阻器上产生的电压,在对所述负载施加规定电压的状态下,测定流过负载的电流,其中,与电流测定量程对应,串联连接多个电流测定电阻器,将电流旁路开关元件与各电流测定电阻器并联连接,在各电流测定电阻器上产生的电压超过规定值时,该电流旁路开关元件接通,依次自动测定各电流测定电阻器各端部上产生的电压,对各测定结果进行减法处理,算出各电流测定电阻器上产生的电压,由该算出结果选择某个包含在测定量程中的最佳值,求出流过负载的电流。
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公开(公告)号：CN1141593C
公开(公告)日：2004-03-10
申请号：CN97181433.3
申请日：1997-11-20
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 桥本好弘
CPC classification number: G01R31/31917 , G01R31/3004
Abstract: 在实行功能测试和直流测试的IC测试装置中，在直流测试装置的输出端连接高电阻的电阻器，通过该电阻器的连接，即使在将直流测试装置连接到功能测试装置的状态下，也能正常操作功能测试装置，从而在功能测试的实行过程中插入直流测试，并行实行功能测试和直流测试，将直流测试装置中开关切换这样花费时间的控制在功能测试中实行，使开关切换时间不添加到测试所需的时间上，从而缩短测试时间。
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公开(公告)号：CN1244925A
公开(公告)日：2000-02-16
申请号：CN97181433.3
申请日：1997-11-20
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 桥本好弘
CPC classification number: G01R31/31917 , G01R31/3004
Abstract: 在实行功能测试和直流测试的IC测试装置中,在直流测试装置的输出端连接高电阻的电阻器,通过该电阻器的连接,即使在将直流测试装置连接到功能测试装置的状态下,也能正常操作功能测试装置,从而在功能测试的实行过程中插入直流测试,并行实行功能测试和直流测试,将直流测试装置中开关切换这样花费时间的控制在功能测试中实行,使开关切换时间不添加到测试所需的时间上,从而缩短测试时间。
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公开(公告)号：CN1244923A
公开(公告)日：2000-02-16
申请号：CN97181347.7
申请日：1997-11-20
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 桥本好弘
CPC classification number: G01R31/2834
Abstract: 一种IC测试装置,在被测试IC的电流流出端的电源端子和共同电位点之间连接电流检测电阻器,与该电流检测电阻器并联设置短路开关,通过该短路开关旁路被测试IC操作模式中流过的大电流,通过在电流检测电阻器上产生的电压来测定被测试IC静止模式中流过的电流,在该电流值大于规定值时,将被测试IC判定为不合格。在该IC测试装置中,在将短路开关从接通状态控制为断开状态的电路上,设置监视在电流检测电阻器上产生的电压的电压比较器,设置控制部件,在该电压比较器检测到电流检测电阻器的电压上升超过规定值时,将短路开关返回到接通状态,还包括延迟控制部件,将电路开关缓慢控制为断开状态。
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公开(公告)号：CN1109896C
公开(公告)日：2003-05-28
申请号：CN97181378.7
申请日：1997-12-02
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 桥本好弘
Abstract: 一种施加电压测定电流的装置及方法，向运算放大器的正相输入端子提供规定电压，向反相输入端子提供施加到负载上的电压，在所述运算放大器的输出端子和负载之间连接电流测定电阻器，测定该电流测定电阻器上产生的电压，在对所述负载施加规定电压的状态下，测定流过负载的电流，其中，与电流测定量程对应，串联连接多个电流测定电阻器，将电流旁路开关元件与各电流测定电阻器并联连接，在各电流测定电阻器上产生的电压超过规定值时，该电流旁路开关元件接通，依次自动测定各电流测定电阻器各端部上产生的电压，对各测定结果进行减法处理，算出各电流测定电阻器上产生的电压，由该算出结果选择某个包含在测定量程中的最佳值，求出流过负载的电流，该装置及方法能够不使用高精度的电阻器，以很好的精度，高速测定电流值。
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