公开(公告)号：CN109580991B

公开(公告)日：2022-05-03

申请号：CN201810874808.0

申请日：2018-08-03

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 渡边克彦

IPC: G01R1/02

Abstract: 提供一种可谋求提升试验质量的电子部件处理装置。对具有温度检测电路(92)的DUT(90)进行处理、且向与测试器(10)电连接的插座(11)按压DUT(90)的电子部件处理装置(20)具备：调整DUT(90)的温度的温度调整装置(40)、从测试器(10)接收表示DUT(90)的结温(Tj)的第1信号的第1接收部(51)、从测试器(10)接收表示温度检测电路(92)的检测值(Tj+c)的第2信号的第2接收部(52)、使用第1信号和第2信号对DUT(90)的温度(Tj’)进行运算的第1运算部(54)、及基于第1运算部(54)的计算结果对温度调整装置(40)进行控制的温度控制部(55)。

公开(公告)号：CN109580991A

公开(公告)日：2019-04-05

申请号：CN201810874808.0

申请日：2018-08-03

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 渡边克彦

IPC: G01R1/02

Abstract: 提供一种可谋求提升试验质量的电子部件处理装置。对具有温度检测电路(92)的DUT(90)进行处理、且向与测试器(10)电连接的插座(11)按压DUT(90)的电子部件处理装置(20)具备：调整DUT(90)的温度的温度调整装置(40)、从测试器(10)接收表示DUT(90)的结温(Tj)的第1信号的第1接收部(51)、从测试器(10)接收表示温度检测电路(92)的检测值(Tj+c)的第2信号的第2接收部(52)、使用第1信号和第2信号对DUT(90)的温度(Tj’)进行运算的第1运算部(54)、及基于第1运算部(54)的计算结果对温度调整装置(40)进行控制的温度控制部(55)。