公开(公告)号：CN1157739C

公开(公告)日：2004-07-14

申请号：CN97193086.4

申请日：1997-12-19

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 碁石优

IPC: G11C29/00 ,  G01R31/28

CPC classification number: G11C29/003 ,  G01R31/31935 ,  G11C29/44 ,  G11C29/56

Abstract: 一种对并行输入/并行输出型存储器和串行输入/串行输出型存储器进行试验的存储器试验装置，在对串行输入/串行输出型存储器进行试验时，能够将串行输出的读出数据中的失效数据按位分开，且在时间轴的不同时刻存储到不良解析存储器中，并能够确定不良位的位置。在逻辑比较器13的输出侧设置选取来自被试验存储器10之端子的输出的失效多路转换器14，在所述失效多选择器与不良解析存储器15之间设置位选择器17，在对串行输入/串行输出型存储器进行试验的时候，由该位选择器将从失效多路转换器输出的串行失效数据按位分开，且在时间轴的不同时刻提供给不良解析存储器，并在不良解析存储器中存储不良位的位置。

公开(公告)号：CN1213455A

公开(公告)日：1999-04-07

申请号：CN97193086.4

申请日：1997-12-19

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 碁石优

IPC: G11C29/00 ,  G01R31/28

CPC classification number: G11C29/003 ,  G01R31/31935 ,  G11C29/44 ,  G11C29/56

Abstract: 一种对并行输入/并行输出型存储器和串行输入/串行输出型存储器进行试验的存储器试验装置,在对串行输入/串行输出型存储器进行试验时,能够将串行输出的读出数据中的失效数据按位分开,且在时间轴的不同时刻存储到不良解析存储器中,并能够确定不良位的位置。在逻辑比较器13的输出侧设置选取来自被试验存储器10之端子的输出的失效多路转换器14,在所述失效多选择器与不良解析存储器15之间设置位选择器17,在对串行输入/串行输出型存储器进行试验的时候,由该位选择器将从失效多路转换器输出的串行失效数据按位分开,且在时间轴的不同时刻提供给不良解析存储器,并在不良解析存储器中存储不良位的位置。