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发明公开
自动测试装置及其接口装置审中-实审

公开(公告)号：CN119270012A

公开(公告)日：2025-01-07

申请号：CN202410661611.4

申请日：2024-05-27

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 滨博之 , 立石治

IPC: G01R31/26 , G01R1/04 , G01R1/073

Abstract: 本发明提供能够以高精度来测试高速设备的接口装置。接口装置(200)设置在测试头(130)与DUT(1)之间。插座板(210)具有用于装配DUT(1)的插座(220)和用于安装插座(220)的插座PCB(230)。多个高速信号用的表面电极(232a)形成在插座PCB(230)的第一面(S1)。多个高速信号用的背面电极(234a)在插座PCB(230)的第二面(S2)形成于俯视观察插座PCB(230)时与多个表面电极(232a)相同的位置处。过孔(236)贯通插座PCB(230)，将对应的表面电极(232a)与背面电极(234a)电连接。

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