气体回收装置、测试头及IC器件测试装置

    公开(公告)号:CN1812826A

    公开(公告)日:2006-08-02

    申请号:CN200480018484.7

    申请日:2004-06-25

    Inventor: 西浦孝英

    CPC classification number: H05K7/20218 G01R31/2875

    Abstract: 一种气体回收装置。其中的发热元件冷却罩(5)在通过覆盖装在基板(4)上的IC器件(44)在内部使冷却液流通,可以使冷却液与IC器件(44)接触。在发热元件冷却罩(5)中,从发热元件冷却罩(5)内部容易发生气体积存的气体积存部到流通的冷却液从气体积存部更靠下游的位置设置空气和冷却液可以通过的槽(54)(旁路)。若使用这样的发热元件冷却罩(5),气体积存部的空气就可以通过旁路放出,可以有效地除去气体积存。

    基板组件、电子元件测试装置及水套

    公开(公告)号:CN102833985A

    公开(公告)日:2012-12-19

    申请号:CN201210192486.4

    申请日:2012-06-12

    Inventor: 西浦孝英

    CPC classification number: G01R31/2863 G01R31/2877 H05K7/20218 H05K7/20509

    Abstract: 本发明提供一种可实现电子元件测试装置小型化的基板组件,包括测试模块20,该测试模块20具有第1引脚电子卡21、第2引脚电子卡22、夹于所述第1引脚电子卡21和所述第2引脚电子卡22之间的一个中央水套23,所述中央水套23,紧贴于所述第1引脚电子卡上的与所述第2引脚电子卡相对的第1内侧主面212的同时,也紧贴于所述第2引脚电子卡22上的与所述第1引脚电子卡21相对的第2内侧主面222。

    气体回收装置、测试头及IC器件测试装置

    公开(公告)号:CN100556495C

    公开(公告)日:2009-11-04

    申请号:CN200480018484.7

    申请日:2004-06-25

    Inventor: 西浦孝英

    CPC classification number: H05K7/20218 G01R31/2875

    Abstract: 一种气体回收装置。其中的发热元件冷却罩(5)在通过覆盖装在基板(4)上的IC器件(44)在内部使冷却液流通,可以使冷却液与IC器件(44)接触。在发热元件冷却罩(5)中,从发热元件冷却罩(5)内部容易发生气体积存的气体积存部到流通的冷却液从气体积存部更靠下游的位置设置空气和冷却液可以通过的槽(54)(旁路)。若使用这样的发热元件冷却罩(5),气体积存部的空气就可以通过旁路放出,可以有效地除去气体积存。

    基板组件、电子元件测试装置及水套

    公开(公告)号:CN102833985B

    公开(公告)日:2015-04-01

    申请号:CN201210192486.4

    申请日:2012-06-12

    Inventor: 西浦孝英

    CPC classification number: G01R31/2863 G01R31/2877 H05K7/20218 H05K7/20509

    Abstract: 本发明提供一种可实现电子元件测试装置小型化的基板组件,包括测试模块20,该测试模块20具有第1引脚电子卡21、第2引脚电子卡22、夹于所述第1引脚电子卡21和所述第2引脚电子卡22之间的一个中央水套23,所述中央水套23,紧贴于所述第1引脚电子卡上的与所述第2引脚电子卡相对的第1内侧主面212的同时,也紧贴于所述第2引脚电子卡22上的与所述第1引脚电子卡21相对的第2内侧主面222。

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