公开(公告)号：CN101563620A

公开(公告)日：2009-10-21

申请号：CN200680056709.7

申请日：2006-12-21

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 金子裕史 ,  山下和之

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2865

Abstract: 本发明之目的在于提供能够缩短测试托盘在停滞情况下的时间损失的电子元件测试装置及电子元件的测试方法，其中，在IC器件搭载于测试托盘TST的状态下将IC器件与测试头(5)的插座50电接触而进行IC器件测试的电子元件测试装置(1)设有将测试托盘TST在电子元件测试装置(1)内按规定方向循环搬送的搬送系统(9)，该搬送系统(9)能够将测试托盘TST整体地或部分地朝与所述规定方向相反的方向上搬送。

公开(公告)号：CN303179348S

公开(公告)日：2015-04-22

申请号：CN201430294146.2

申请日：2014-08-19

Applicant: 株式会社爱德万测试

Designer： 相泽光范 ,  金子裕史

Abstract: 1．本外观设计产品的名称：测试托盘。2．本外观设计产品的用途：用于测试电子部件性能或功能等的电子部件操作装置中，来运送待测试电子部件，以使待测试电子部件与测试头接触。3．本外观设计产品的设计要点：在于产品的形状。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图1。