公开(公告)号：CN112255250B

公开(公告)日：2024-06-18

申请号：CN202010618226.3

申请日：2020-07-01

Applicant: 株式会社石田

Inventor： 久保拓右

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/083 ,  G01N23/18 ,  G06V10/143 ,  G06V10/25 ,  G06V10/82

Abstract: 本发明提供了图像生成装置、检查装置及学习装置。图像处理部(50)具备：第一处理部(52)，通过改变第一合格品图像(P111)的第一对象像素(PX1)的像素值，生成第一虚拟不合格品图像(P112)；以及第二处理部(53)，通过改变第二合格品图像(P121)的第二对象像素(PX2)的像素值，生成第二虚拟不合格品图像(P122)。第一处理部通过基于异物(F)的电磁波的吸收特性的第一处理来改变第一对象像素的像素值，第二处理部通过基于吸收特性的第二处理来改变第二对象像素的像素值，第二处理是与第一处理不同的处理。

公开(公告)号：CN112255250A

公开(公告)日：2021-01-22

申请号：CN202010618226.3

申请日：2020-07-01

Applicant: 株式会社石田

Inventor： 久保拓右

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/083 ,  G01N23/18 ,  G06K9/20 ,  G06K9/32

Abstract: 本发明提供了图像生成装置、检查装置及学习装置。图像处理部(50)具备：第一处理部(52)，通过改变第一合格品图像(P111)的第一对象像素(PX1)的像素值，生成第一虚拟不合格品图像(P112)；以及第二处理部(53)，通过改变第二合格品图像(P121)的第二对象像素(PX2)的像素值，生成第二虚拟不合格品图像(P122)。第一处理部通过基于异物(F)的电磁波的吸收特性的第一处理来改变第一对象像素的像素值，第二处理部通过基于吸收特性的第二处理来改变第二对象像素的像素值，第二处理是与第一处理不同的处理。

公开(公告)号：CN205808532U

公开(公告)日：2016-12-14

申请号：CN201590000218.5

申请日：2015-01-28

Applicant: 株式会社石田

Inventor： 广濑修 ,  影山寿晴 ,  久保拓右 ,  稻积庆人 ,  池田真也 ,  小西聪

IPC: G01G19/387

CPC classification number: G01G19/387 ,  G01G19/393

Abstract: 本实用新型的技术问题在于提供高精度地进行物品输送部中的物品的供给控制的组合计量装置。组合计量装置(100)包括：物品输送部(10、20)，具有物品的载置部(11、21)和驱动该载置部的驱动部(12、22)，通过驱动驱动部而向配置于输送方向下游的料斗(30)输送物品；检测部态；以及供给控制部(82c)，通过基于检测部的检测结果进行物品输送部的驱动控制，从而进行物品的供给控制，检测部针对沿着输送方向的多个区域，按照各区域检测物品的状态，供给控制部基于根据每个区域的物品的状态所掌握的、与每个区域的载置部上的物品的高度相关的物理量来进行驱动控制。(60)，以非接触方式检测载置部上的物品的状

公开(公告)号：CN301733759S

公开(公告)日：2011-11-23

申请号：CN201130071183.3

申请日：2011-04-01

Applicant: 株式会社石田

Designer： 小森春彦 ,  栖原一浩 ,  堀洋 ,  小林智子 ,  久保拓右

Abstract: 1.本外观设计产品的名称为：X线检测机。2.本外观设计产品用途为：检测被检测物内的异物的有无或形状等是否合适。3.本外观产品的设计要点为：全体外观形状。4.立体图是最能表明设计要点的图片。