公开(公告)号：CN111630519B

公开(公告)日：2024-05-24

申请号：CN201880086679.7

申请日：2018-10-30

Applicant: 株式会社石田

Inventor： 中谷诚 ,  樽本祥宪 ,  前中章弘 ,  堤弘法

IPC: G01N23/04 ,  G06T7/00

Abstract: 本发明的目的是提供能够抑制包含有时相互重合的多个物品的商品的检查精度降低的检查装置。X射线检查装置(10)对容纳有规定形状的多个物品(A)的商品(G)照射光，基于根据透射过商品(G)的光或者被商品(G)反射的光而得到的检查图像来检查商品(G)。X射线检查装置(10)具备存储部(51)、学习部(52c)以及检查部(52d)。存储部(51)将多个物品(A)重合的状态的商品(G)的检查图像至少存储为指导训练图像。学习部(52c)通过使用存储部(51)中存储的指导训练图像的机械学习来获取关于多个物品(A)重合的状态的商品(G)的特征。检查部(52d)使用学习部(52c)所获取的特征来检查商品(G)。

公开(公告)号：CN111630519A

公开(公告)日：2020-09-04

申请号：CN201880086679.7

申请日：2018-10-30

Applicant: 株式会社石田

Inventor： 中谷诚 ,  樽本祥宪 ,  前中章弘 ,  堤弘法

IPC: G06K9/00 ,  G06N20/00

Abstract: 本发明的目的是提供能够抑制包含有时相互重合的多个物品的商品的检查精度降低的检查装置。X射线检查装置(10)对容纳有规定形状的多个物品(A)的商品(G)照射光，基于根据透射过商品(G)的光或者被商品(G)反射的光而得到的检查图像来检查商品(G)。X射线检查装置(10)具备存储部(51)、学习部(52c)以及检查部(52d)。存储部(51)将多个物品(A)重合的状态的商品(G)的检查图像至少存储为指导训练图像。学习部(52c)通过使用存储部(51)中存储的指导训练图像的机械学习来获取关于多个物品(A)重合的状态的商品(G)的特征。检查部(52d)使用学习部(52c)所获取的特征来检查商品(G)。